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電泳光散射和相位分析光散射技術(shù)

測量 Zeta 電位

產(chǎn)品介紹

BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個(gè)電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動(dòng)造成的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。

基本性能指標(biāo)

Zeta電位測試

? 檢測角度：12°

? Zeta范圍：無實(shí)際限制

? 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

? 電導(dǎo)率范圍：0 - 260 mS/cm

? Zeta測試粒徑范圍：2 nm –＞120 μm

趨勢測試

模式：時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

? 溫控范圍：-15°C - 120°C

? 冷凝控制：干燥空氣或者氮?dú)?/p>

? 標(biāo)準(zhǔn)激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

? 相關(guān)器：最多4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍

? 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）

? 光強(qiáng)控制：0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)

檢測參數(shù)

? Zeta 電位? Zeta電位分布

? 電導(dǎo)率

檢測技術(shù)

? 電泳光散射

選配件

? BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

? BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。