中國粉體網(wǎng)訊 日本九州大學(xué)、SYSTEM IN FRONTIER公司(SIF)、大阪大學(xué)、筑波大學(xué)于2016年6月14日宣布,開發(fā)出了在可以觀察納米(nm)級細(xì)胞和物質(zhì)的透射電子顯微鏡(TEM)內(nèi),一邊使物質(zhì)發(fā)生拉伸和壓縮[更多]
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