德國和西班牙兩國科研小組合作,利用紅外線納米近場顯微鏡發(fā)明了一種無干擾檢測納米半導(dǎo)體材料張力的新方法,這一新方法為科學(xué)家研究半導(dǎo)體材料的物理性能,以及測量納米級(jí)半導(dǎo)體元器件的性能提供了新的可能。 [更多]
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