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            飛納手套箱版掃描電鏡
            飛納手套箱版掃描電鏡

            參考價格

            面議

            型號

            Phenom Ar-C

            品牌

            飛納

            產(chǎn)地

            荷蘭

            樣本

            暫無
            復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

            金牌會員

            |

            第8年

            |

            代理商

            工商已核實

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            • 電子光學(xué)放大:

              160-200000x
            • 光學(xué)放大:

              3-16x
            • 分辨率:

              優(yōu)于8nm
            • 探測器:

              背散射電子探測器
            • 加速電壓:

              5kV,10kV,15kV
            • 電子槍:

              六硼化鈰
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            Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡

              +  

            在手套箱內(nèi)進行空氣敏感材料的制備和分析





            Phenom Argon-Compatible Desktop SEM(以下簡稱:Phenom Ar-C)是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運行的掃描電   鏡,可以在手套箱內(nèi)進行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器,實現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究,節(jié)省了時間和資源。

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            傳統(tǒng)方法與 Phenom 手套箱版臺式掃描電鏡對比
               


            Phenom Ar-C,標(biāo)配四分割背散射電子檢測器(BSD),可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度??梢赃x配二次電子探測器(SED), 完全集成的能譜(EDS)系 統(tǒng)進行元素分析。兼容 ProSuite 拓展軟件,如 ParticleMetric 顆粒統(tǒng)計分析系   統(tǒng)、PoroMetric 孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)、FiberMetric 纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)和 3D 粗糙度重建系統(tǒng),來協(xié)助進一步分析樣品。    



            放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C    

            2 μm

            電池陰極顆粒的 SEM 圖像

               


               

            規(guī)格參數(shù)                    

            成像模式                    

            光學(xué)顯微鏡                            放大倍數(shù):3 – 16x                    

            電子顯微鏡                    

            放大倍數(shù):160 –200,000x                    

            照明                    

            光學(xué)                    

            明場和暗場模式                    


            電子光學(xué)                    

            &bull;     長壽命 CeB6 燈絲                    

            &bull;     束斑尺寸連續(xù)可調(diào)                    


            加速電壓                    

            基本模式:5kV, 10kV 和 15kV                    

            高級模式:4.8kV  -  15kV   續(xù)可調(diào),用于成像和元素分析                    

            樣品真空                    

            低 - - 高                    

            分辨率                    

            優(yōu)于 8 nm                    

            探測器                    

            標(biāo)配                    

            背散射電子探測器                    

            選配                    

            二次電子探測器 能譜探測器                    

            圖像檢測                    

            光學(xué)                    

            高分辨率彩色導(dǎo)航相機                    


            電子光學(xué)                    

            高靈敏度四分割背散射電子探測 器(具有成分模式和形貌模式)                    

            圖像格式                    

            JPEG, TIFF, BMP                    

            圖像分辨率選項                    

            960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素                    

            數(shù)據(jù)存儲                    

            USB 閃存, 網(wǎng)絡(luò), 工作站                    


            手套箱饋通要求                    

            &bull;     網(wǎng)口                    

            &bull;     電源口                    

            &bull;     USB 接口                    



               

               


               

            系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)                    

            尺寸和重量 主機                    



            316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg                    

            隔膜泵                    

            145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg                    

            電源                    

            156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg                    

            顯示器 (24 英寸)                    

            531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg                    


            工作站                    

            &bull;     SSD 存儲和 4 個 USB 插槽                    

            &bull;     92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm,                    

            8 kg                    

            樣品尺寸                    

            &bull;     ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區(qū)域                    

            &bull;     50mm x 50mm                    

            &bull;     100mm x 100mm(可選)                    

            樣品加載時間                    

            光學(xué)                    

            <5 s                    

            電子光學(xué)                    

            安裝要求                    

            <60 s                    

            環(huán)境條件                    

            溫度                    

            15 –25°C (59–77°F)                    

            H2O / O2 比例要求                    

            < 0.5 PPM                    

            電源                    

            單相交流 100–240 V,  50/60 Hz, 平均 163 W, ** 348 W                    

            物理參數(shù)                    

            &bull;     建議桌臺規(guī)格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg                    

            &bull;     隔膜泵必須安裝在無明顯振動處                    

            可輸出用戶選定的獨立元素 背散射電子圖像    

            元素 / SEM 混合圖像    


               

            掃描區(qū)域                             任何尺寸的矩形    

            面掃描像素數(shù)                    

            32x20–960x600 像素                    

            像素停留時間                    

            1 –500 ms                    

            線掃描                    

            線掃描像素數(shù)                       16 –512 像素                    

            線掃描停留時間                    10 –500 ms    


               

            Docx 格式    




               

            對地質(zhì)樣品進行 EDS Mapping 分析    


            自動化    

            Phenom Ar-C 可通過 PPIPhenom 編程接口)進行標(biāo)準(zhǔn)訪  問,這是一種通過 Python 腳本來運行 Phenom Ar-C 的方法。 可以協(xié)助用戶自動化分析顆粒、孔隙、纖維或大尺寸 SEM 圖像   的重復(fù)性任務(wù)。如果需要,可以根據(jù)您的具體使用需求提供相應(yīng)   的技術(shù)支持。    

            CeB6 長壽命燈絲    

            CeB6(六硼化鈰)長壽命燈絲具有以下幾個優(yōu)點。首先,與鎢燈 絲相比,提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細(xì)節(jié)的高質(zhì)量   圖像。第二,燈絲的使用壽命很長,無需頻繁拆開手套箱進行更   換,加上定期的維護保養(yǎng),這可以為用戶帶來長周期的穩(wěn)定體    

            驗。第三,通過 Phenom 智能軟件可盡可能地延長使用壽命, 當(dāng) Phenom Ar-C 未使用時,燈絲進入休眠狀態(tài)。    

            優(yōu)中心樣品臺    

            在許多的  SEM  應(yīng)用中,如果樣品可以傾斜和旋轉(zhuǎn),有助于更深 入地了解樣品特性。優(yōu)中心樣品臺就是考慮到這一點而專門開發(fā)    的,該樣品臺可以輕松安全地從各個角度觀察樣品。    



            高度集成 ProSuite 軟件    

            操作界面集成化 自動識別譜峰    

            迭代反卷積算法    置信度指標(biāo)可視化    

            導(dǎo)出功能:CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA    


               

            可 4 個方向移動:Z (高度)、R (旋轉(zhuǎn))、T (傾斜) 和 x' (x-prime)    


            **樣品尺寸                    

            90° 傾斜放置                    

            &Oslash; ≤30 mm; 高度 ≤32 mm                    

            < 45° 傾斜放置                    

            &Oslash; ≤70 mm; 高度 ≤32 mm                    

            傾斜角度                    

            -15° 和 +90°之間                    

            旋轉(zhuǎn)角度                    

            360° 連續(xù)                    





            創(chuàng)新點

            一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運行的掃描電 鏡,可以在手套箱內(nèi)進行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器,實現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究,節(jié)省了時間和資源。

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            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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