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面議型號
ZEM20臺式掃描電鏡品牌
安徽澤攸產(chǎn)地
安徽樣本
暫無電子光學(xué)放大:
-光學(xué)放大:
-分辨率:
優(yōu)于6nm探測器:
BSE、SE加速電壓:
-電子槍:
-看了ZEM20臺式掃描電鏡的用戶又看了
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澤攸科技推出的ZEM系列臺式掃描電鏡,融合了眾多創(chuàng)新技術(shù),不僅成像效果**,而且便于攜帶,能夠滿足多樣化的應(yīng)用需求。在國內(nèi)外,ZEM系列以其高端定位和多樣化型號,已在成像清晰度、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達(dá)到了先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。
該系列產(chǎn)品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱,用戶界面簡潔,易于學(xué)習(xí)和操作,即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程,從樣品準(zhǔn)備、參數(shù)調(diào)整到圖像分析,提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫(yī)藥和半導(dǎo)體等多個領(lǐng)域均顯示出了其強大的分析能力,助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其**的性價比,ZEM系列已成為眾多高校、研究機構(gòu)和企業(yè)重點選擇的臺式掃描電鏡。
產(chǎn)品參數(shù):
產(chǎn)品特色:
▲ 真空分隔技術(shù) :采用獨特真空設(shè)計,電子槍和樣品倉真空分離,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。
▲ 倉內(nèi)攝像頭:樣品倉內(nèi)置高清攝像頭,原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化。
可拓展原位電鏡附件列表:
SEM芯片加熱臺,SEM加熱爐,SEM電池臺,SEM液體電化學(xué)臺,SEM氣體臺,SEM拉伸臺,SEM-TEC冷臺,SEM液氮冷臺,SEM電學(xué)探針臺,SEM通光等掃描電鏡原位測試系統(tǒng) 。
暫無數(shù)據(jù)!
近日,浙江大學(xué)張澤院士、王江偉研究員團(tuán)隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發(fā)表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-media
近日,蘇州科技大學(xué)作為第一單位,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日,澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna