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PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)品牌
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PicoFemto NI-100 SEM納米力測量將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。該系統(tǒng)由一個(gè)三維壓電驅(qū)動的樣品臺和一個(gè)納米力測量探針組成。樣品安裝方式靈活多樣，可在三維納米位移臺的驅(qū)動下，達(dá)到超過5 mm的準(zhǔn)確定位，定位分辨率優(yōu)于100 nm，以使待測量區(qū)域準(zhǔn)確對準(zhǔn)力探針。
力探針同樣由壓電驅(qū)動，在軸向達(dá)到100 um的伸縮長度，位移分辨率優(yōu)于0.25mm。由力傳感器準(zhǔn)確測量所施加的力的載荷，可測拉力和壓力。并有不同的大量程的力傳感器可選配，達(dá)到很好的測量效果。通過搭配電學(xué)、光學(xué)、加熱等模塊，該產(chǎn)品還可以實(shí)現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
PicoFemto NI-100 SEM納米力測量系統(tǒng)基本技術(shù)參數(shù)表
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國產(chǎn)電子束光刻機(jī)實(shí)現(xiàn)自主可控，是實(shí)現(xiàn)我國集成電路產(chǎn)業(yè)鏈自主可控的重要一環(huán)。近日，澤攸科技聯(lián)合松山湖材料實(shí)驗(yàn)室開展的全自主電子束光刻機(jī)整機(jī)的開發(fā)與產(chǎn)業(yè)化項(xiàng)目取得重大進(jìn)展，成功研制出電子束光刻系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了
六一國際兒童節(jié)即將來臨，澤攸科技在這個(gè)節(jié)日前夕，開展了一場別開生面的公益科普活動。今天澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡來到了西南交通大學(xué)分析測試中心，同時(shí)阿壩縣麥爾瑪中心校和查理鄉(xiāng)中心校的藏區(qū)
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