功率(kw):
-重量(kg):
-規(guī)格外形(長*寬*高):
-看了探針的用戶又看了
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MEMS探針主要應(yīng)用于集成電路電路的芯片的性能檢測。
電沉積工藝可以根據(jù)探針的不同用途,制作出不同特性的半導(dǎo)體檢測探針,例如,某些芯片需要高導(dǎo)電性的探針,我們可以通過改變材質(zhì),改變表面材質(zhì)特性來制作出高導(dǎo)電性的探針,也可以根據(jù)要求,制作出高彈性,高抗振動疲勞的探針,高接觸性以減小到*小的信號減,讓信號傳遞更完整。
暫無數(shù)據(jù)!