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        顯微PL光譜測量系統(tǒng)
        顯微PL光譜測量系統(tǒng)

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        面議

        型號

        顯微PL光譜測量系統(tǒng)

        品牌

        上海良允

        產(chǎn)地

        上海

        樣本

        暫無
        上海良允科學(xué)儀器有限公司

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        光致發(fā)光(photoluminescence)即PL,是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光,

        在半導(dǎo)體材料的發(fā)光特性測量應(yīng)用中通常是用激光(波長如325nm、532nm、785nm等)

        激發(fā)材料(如GaN、ZnO、GaAs等)產(chǎn)生熒光,通過對其熒光光譜(即PL譜)的測量,

        分析該材料的光學(xué)特性,如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、

        成分及環(huán)境原子排列的信息,是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法,

        因而在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。

        傳統(tǒng)的熒光光譜儀一般采用透鏡收光的方式,針對發(fā)光非常微弱的納米材料,

        即便用激光器激發(fā),也很難獲得較好的信號。結(jié)合多年的實際測樣經(jīng)驗,

        良允科儀推出了顯微PL系統(tǒng),采用顯微物鏡收光,

        較傳統(tǒng)的熒光光譜儀其收光效率提升了至少3個數(shù)量級,

        因此特別適用于傳統(tǒng)熒光系統(tǒng)難以檢測到的微弱信號,

        另外其輔助的白光成像功能,還可以實現(xiàn)微區(qū)(微米級)定位測量。 

        應(yīng)用領(lǐng)域:

        ·  半導(dǎo)體材料

        ·  納米材料

        ·  薄膜材料

        ·  光波導(dǎo)器件

        ·  LD, LED外延片


        產(chǎn)品特點:

        ·  光譜范圍:200-1700nm

        ·  光斑大?。骸?0μm(325nm激光、100X物鏡)

        ·  光譜分辨率:優(yōu)于0.1nm

        ·  白光成像分辨率:亞微米級

        ·  激光器:266nm、325nm、360nm、405nm、488nm、510nm、532nm、633nm、

        785nm等可選

        ·  樣品臺:手動/電動可選

        ·  采譜模式:單點掃描/線掃描可選


        系統(tǒng)功能:

        ·  微區(qū)PL測量

        ·  可同時配置多路激光器

        ·  自由光路耦合,保障高的通光效率

        ·  顯微光路設(shè)計,保障高的激發(fā)、收集效率

        ·  高精度位移臺,實現(xiàn)微米級定位測量


        擴(kuò)展功能:

        ·  微區(qū)電致發(fā)光(EL)測量

        ·  熒光壽命測量:ps-ms量級

        ·  自動Mapping功能:50mm×50mm行程,步進(jìn)精度1μm

        ·  光電流譜(成像)測量

        ·  光電材料響應(yīng)度測試

        ·  變溫附件:77K-600℃/4K、10K超低溫


        實測案例:

        樣品(粉末):8%Ag2S/SnS2-ND

        激發(fā)光源:405nm激光器,積分時間:0.5s;


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