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面內(nèi)導(dǎo)率測量系統(tǒng)（SDTR）品牌
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熱反射面內(nèi)熱導(dǎo)率測量系統(tǒng)基于“泵浦-探測”原理，采用空間域熱反射法（Spatial Domain Thermal Reflection，縮寫為：SDTR），能夠準確測量從薄膜到塊體材料的完整的面內(nèi)熱導(dǎo)率張量。系統(tǒng)自動化程度高，操作簡便，特別適合大批量快速測量。
特點與優(yōu)勢
可測量完整的面內(nèi)熱導(dǎo)率張量
各向同性材料熱導(dǎo)率測量高性價方案
結(jié)構(gòu)緊湊
可靠性高、免維護
1、電源需求：110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp
2、激光波長：泵浦638 nm，探測785 nm（標配，可根據(jù)用戶需求選配）
3、激光功率：泵浦100 mW，探測20 mW（標配，可根據(jù)用戶需求選配）
4、調(diào)制頻率范圍：標配DC-5MHz，可升級到50MH，200MHz
5、顯微成像：標配，可觀察樣品表面狀況及激光光斑位置
6、測溫范圍：標配室溫，可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同溫區(qū)的變溫模塊
7、軟件：全自動數(shù)據(jù)測量與分析處理、數(shù)據(jù)導(dǎo)出、報告生成
面內(nèi)各向異性熱導(dǎo)率張量測量結(jié)果
以X切石英晶體為例:
光學(xué)交流量熱法不要求激光光斑有嚴格的圓度即能準確測量面內(nèi)熱導(dǎo)率張量
暫無數(shù)據(jù)！
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