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光譜 SiC外延體相表相無損缺陷分析品牌
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July 04, 2023 – 微波探測空間分辨率低，僅為mm級別，無法獲得載流子壽命精確分布成像。采用全新瞬態(tài)吸收光譜成像技術(shù)，利用高速相機(jī)實現(xiàn)載流子衰減動力學(xué)的成像，無需掃描樣品！檢測速度大幅提升
暫無數(shù)據(jù)！
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