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QT-6000 分立器件高速測(cè)試系統(tǒng)品牌
聯(lián)動(dòng)科技產(chǎn)地
廣東樣本
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· 高速測(cè)試,UPH>40K
· 可一拖二實(shí)現(xiàn)100% FT+QA并行測(cè)試
· 先進(jìn)的電容高速測(cè)試方案,實(shí)現(xiàn)CAP+DC同工位測(cè)試
· 內(nèi)置UIS測(cè)試方案,實(shí)現(xiàn)DC+UIS同工位測(cè)試
· LCR精準(zhǔn)電容測(cè)試,*小測(cè)試電容值100fF
主要技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量精度 | 電流:<0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 1.5nA 電壓:<0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 1.5mV 電容:0.5% 讀值 + 0.05% 量程 + 10fF |
技術(shù)指標(biāo) | **電流 電壓30A /1200V 電容表測(cè)量范圍:0.2-300pF(BIAS電壓范圍0-80V, 1MHz) LCR測(cè)量范圍:0.1pF-0.1uF(BIAS電壓范圍0-30V, 1MHZ) |
分辨率 | 16 bit ADC/DAC |
波形記錄 | 內(nèi)部示波器 |
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