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SM304 InGaAs 陣列光譜儀
科研級高性能
極低的暗噪聲和雜散光
寬的動態(tài)范圍和高的信噪比
高穩(wěn)定性
靈活的光纖輸入直接到狹縫或通過光纖
廣泛的應(yīng)用設(shè)計
高速數(shù)據(jù)采集
各種近紅外范圍從900納米到2500納米
應(yīng)用:
光譜產(chǎn)品將提供新的SM304 TE致冷的InGaAs陣列光譜儀。
SM304系列是理想的近紅外光譜法，需要非常高的信噪比和/或高動態(tài)響。高性能的SM304系列的低噪聲電平，能夠應(yīng)用在非?？量痰膽?yīng)用。
SM304系列中使用的檢測器的高靈敏度允許各種寬帶應(yīng)用，例如，測量在近紅外范圍內(nèi)的各種樣品，在分析化學(xué)品/水分檢測的光學(xué)性質(zhì)，以及一個窄頻帶的應(yīng)用，如近紅外激光表征。
標(biāo)準(zhǔn)接口SM304系列與16位在USB 1.1/2.0兼容接口。軟件支持包括SDK和DLL的專用應(yīng)用程序的開發(fā)，我們的SM32Pro基于Windows的光譜采集和分析軟件。
軟件:
SM32Pro - 視窗95，2000，XP，7的軟件（支持32位和64位）進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和分析透射率，反射率，和吸光度測量
數(shù)據(jù)導(dǎo)出，放大和縮小，頻譜覆蓋，還有更多的功能
信號平均和積分時間控制
可在DOS和Windows用戶方便的軟件開發(fā)DLL庫
用VC+ + / VB/ Labview的例子
暫無數(shù)據(jù)！
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