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        激光剝蝕進樣-光譜元素分析系統
        激光剝蝕進樣-光譜元素分析系統

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        產地

        美國

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        原生態(tài)有限公司

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        工作原理

        激光剝蝕技術LA及激光誘導擊穿光譜LIBS相結合,J200接收等離子體發(fā)射光進行快速光譜分析,同時將激光剝蝕顆粒高效傳輸至ICP-MS系統。

        主要特點:

        J200具有LALIBS雙系統測量能力,可以單獨運行LA LIBS,或者同時運行LA- LIBS復合系統。激光fs ns可選。

        樣品自動對焦、高度自動調整、光斑大小調節(jié)。

        可對固、液、氣樣品進行全元素LIBS快速檢測,同時可將固體樣品的剝蝕顆?;蛘咭后w樣品直接送入ICP-MS系統,實現ppb級精確分析。

        可用于分析元素周期表中的所有元素。

        ASI數據分析軟件可在一個數據分析平臺進行,分析LIBSLA數據;可進行快速映射功能。

        應用領域

        復雜樣本的定性和定量分析

        制造質量控制:制藥、生物技術、電子、太陽能、薄膜等

        污染控制

        土壤、植物和礦物分析

        玻璃、油漆和其他痕跡證據的法醫(yī)分析

        材料來源確定

        學術界、政府和商業(yè)企業(yè)研究和實驗室分析

        性能指標

        激光系統

        **能量

        25mJ@ 266nm;能量輸出 0-100%可調

        重現率

        20Hz,脈寬<6ns(FWHM),DI 水冷卻系統

        能量控制

        光學衰減連續(xù)可變

        光斑大小控制

        35-250 微米可調(到達樣品表面的燒蝕光斑直徑)

        激光光閘

        自動雙光閘,穩(wěn)定控制激光能量和 LIBS 信號測量

        激光安全

        I 級,樣品放置區(qū)域有濾光器,有激光鎖定保護

        檢測器系統

        譜寬190-1040 nm

        測量過程不不受環(huán)境溫度變化的影響

        分辨率λ/Δλ高達 6000

        光譜精度優(yōu)于±0.05nm

        雜散光抑制

        探測器門控

        門延時0.5ns-1ms

        分辨率 0.5 ns

        樣品平臺系統

        全自動 XYZ 行程

        XY 行程 100mmx100mm,Z 行程 35mm

        XY 行程分辨率 0.2um,Z 行程分辨率 0.2um

        XY 行程重現率 0.2um,Z 行程重現率 0.2um

        速度 0.001-20 mm/s

        氣壓可控

        樣品放置區(qū)域有濾光器,有激光鎖定保護功能

        含高效空氣顆粒清潔器

        具備專配 670 納米激光協助樣品高度自動調整功能

        雙 CMOS 相機,廣角用于定位采樣區(qū)域,高倍成像用于觀察某一特定區(qū)域。并可在電腦屏幕上實時觀察樣品燒蝕過程

        樣品池-可充氦氣或氬氣惰性氣體保護;鋰電池樣品需要保持在無水,無氧的條件下進行測量。測量碳,氮,氧,氫,氟等元素時;樣品池需要保持在氦氣氣氛中。

        操作軟件

        激光自動采樣設置

        單點、網格、光柵狀、線性掃描或用戶自定義設置

        數據處理系統

        包含譜線自動識別功能、光譜處理功能、LIBS 的強度監(jiān)測、化學統計功能等

        元素制圖及深度分析控制

        包含84種元素的Trulibs™光譜數據庫和LIBS NIST 理論數據庫(涵蓋所有元素)

        設置預脈沖個數用來清洗樣品表面污染物

        高度自動化的測量功能

        元素特征線的自動標定、標準曲線建立(單變量和多變量校準曲線)、主成分回歸功能可用于樣品分類

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        10分

        售后服務

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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