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進口APS-100型納米粒度儀

●一般描述：

1)粒度測量范圍10nm ~ 100um

2)可提供詳細、**的樣品顆粒粒度分析，無須稀釋；

3)測試*后，您無須修飾稀釋后的樣品粒度數(shù)據(jù)，該儀器可測量非稀釋、非透明的樣品；

4)比其他粒度儀器更優(yōu)越的是，您無須預先知道、或猜測樣品的粒度分布(PSD)所依賴的形狀；

5)該儀器同時采用聲學衰減、音速譜線技術來測量非稀釋樣品的粒度，并可測量固體百分比、PH、電導、溫度等參數(shù)；

6)我們已有20多年的粒度分析和Zeta電勢分析的領導優(yōu)勢；

●工作原理：

1)該儀器采用聲波衰減波譜測量技術，可不用稀釋樣品就可獲得樣品粒度分布PSD數(shù)據(jù)，樣品測量范圍10nm ~ 100um，可同時測量樣品的聲速波譜、PH、電導、溫度等參數(shù)；

2)當聲音穿過泥漿或膠體時，它會被衰減。其衰減的程度與樣品顆粒分布有關。該儀器采用1-100 MHz的頻率范圍能精確測量聲波的衰減程度。因為聲波能穿透所有的樣品材料，因此采用聲波衰減測量原理可應用在高濃度或不透明的樣品。樣品的沉淀現(xiàn)象不會成為問題，是因為在測量過程中樣品可被攪拌或泵驅動。該粒度測量獨立于樣品的Zeta電勢水平。它可分析顆粒從零，到高電荷；

3)該儀器分析快速、簡單，而且不須樣品稀釋，因此可減少時間消耗、錯誤傾向、遺跡減少改變真實PSD分布；只須簡單傾倒，或連續(xù)用泵將樣品泵入該儀器的樣品池，則通過操作軟件就可再數(shù)分鐘內得到測試結果；

4)該操作軟件由Lucent朗訊科技公司開發(fā)且擁有**，無須假設樣品顆粒的形狀就可直接計算、給出詳細的樣品顆粒分布PSD信息。其他所有的儀器如采用光散射技術的，則須軟件或操作者假設或猜測樣品顆粒是單峰的、雙峰的、對數(shù)正態(tài)的、高斯類型。這種假設會讓數(shù)據(jù)變得不太可靠；

5)**的儀器硬件可簡化操作、降低維護費用；

6)該儀器非常適合R&D、QC測量控制、以及在線過程操作；

●軟件：

1)該軟件已有20年的設計經(jīng)驗。只須按一下鼠標就可開始粒度測量。圖象功能強大可使您直接比較數(shù)據(jù)。測量數(shù)據(jù)可隨時被導入流行的電子數(shù)據(jù)表軟件以進行進一步分析；

2)該儀器非常適合QC質量控制，操作者無須受到高級培訓。此外，它非常適合研發(fā)，因為它有強大的數(shù)據(jù)分析功能；

3)該軟件采用朗訊的**技術，無須假設樣品的顆粒形狀。PSD顆粒粒度的結果信息非常詳細和全面，可無須標準顆粒樣品的校正；

4)右上邊圖表：

PSD覆蓋3個硅土樣品(相同的總比例固體)。綠色和紅色曲線代表60nm和300nm硅土樣品的混合物。該數(shù)據(jù)可準確反應不同的60/300nm顆粒比率。黃色曲線可反映出300nm的樣品；

5)右邊圖表：

右邊表示聲波衰減數(shù)據(jù)，以dB/cm對應頻率(MHz)，有3個樣品。當300nm顆粒/60nm顆粒的比率上升，衰減曲線的形狀發(fā)生改變，而衰減程度在上升；

●應用領域：該儀器可廣泛用于R&D、工業(yè)生產(chǎn)等領域，具體如下：

1)半導體化學機械拋光(CMP)漿料：可直接檢測晶片-拋光太大的顆粒，或檢測漿料的實際的、詳細的粒度分布PSD；

2)陶瓷；墨水；乳化穩(wěn)定性，水/油，油/水混合物測量添加劑效果；制藥；生物膠體；白磷；有機或無機顏料如Ti02、碳黑等；催化劑；礦石；乳膠聚合體，水溶液或非水溶液；