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美國LUMETRICS公司自主研發(fā)的CLAS-2D^TM系列波前分析儀（CLAS-2D™ ， CLAS-XP™， CLAS-HP™， CLAS- NearIR-320™， CLAS-NearIR-640™）能夠快速、簡單、準(zhǔn)確的測量激光光束的波前相位參數(shù)，例如波前傾斜，峰谷誤差，均方根波前誤差，像散，球差，聚焦誤差/準(zhǔn)直。

LUMETRICS公司的波前分析儀是集四波橫向剪切干涉儀，光束質(zhì)量分析儀，自準(zhǔn)直儀和四象限探測器為一體的快速、緊湊型波前分析儀器。運(yùn)用獨(dú)特的算法能夠精確測量三個(gè)波段的波前參數(shù)：300nm -1100 nm， 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。

另外，美國LUMETRICS波前傳感器生產(chǎn)廠家具有雄厚的技術(shù)研發(fā)實(shí)力，能為客戶提供的各種自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定個(gè)性化解決方案?？筛鶕?jù)客戶的應(yīng)用需求，為客戶推薦*合適的波前傳感器、可變形鏡或空間光調(diào)制器、自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)操作軟件等。

波前分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

CLAS-2D^TM系列波前分析儀具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨(dú)特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案！LUMETRICS波前探測器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。

波前分析儀應(yīng)用范圍：

?激光、天文、顯微、眼科等復(fù)雜自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)波前像差檢測

?激光光束性能、波前像差、M²、強(qiáng)度等的檢測

?紅外、近紅外探測

?平行光管/望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào)

?衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領(lǐng)域

?球面、非球面光學(xué)元器件檢測(平面，球面，透鏡)

?虹膜定位像差引導(dǎo)

?大口徑高精度光學(xué)元器件檢測

?激光通信領(lǐng)域

?航空航天領(lǐng)域

CLAS-2D^TM產(chǎn)品型號匯總

COMPLETE CLAS-XP System

COMPLETE CLAS-HP System

COMPLETE CLAS-Near IR 320 System