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        K-T G200/I-Nano/Insitu微納米力學(xué)測試
        K-T G200/I-Nano/Insitu微納米力學(xué)測試

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        美國K-T公司是全球微納米力學(xué)測試設(shè)備技術(shù)的開創(chuàng)者,全球**臺納米力學(xué)測試系統(tǒng)于上世紀(jì)80年代初在公司前身誕生,多種測量方法和物理模型來自該公司。經(jīng)過30多年不斷努力和改進,該公司微納米力學(xué)測試不僅實現(xiàn)了靜態(tài)到動態(tài)的測試,同時實現(xiàn)了與光學(xué)、電學(xué)等設(shè)備連用的原位材料力學(xué)、微結(jié)構(gòu)學(xué)甚至成份學(xué)的多手段原位測試功能。當(dāng)前國標(biāo)已經(jīng)引入該公司**的CSM連續(xù)剛度技術(shù),在該領(lǐng)域具有很高的權(quán)威性。K-T在連續(xù)剛度(CSM)、高分辨、掃描成像、快速測試方面擁有獨特技術(shù)。K-T是該領(lǐng)域**跨國公司,中國設(shè)有地區(qū)總部,擁有*專業(yè)的技術(shù)支持和售后服務(wù)人員。

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