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產(chǎn)品介紹

SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀（Scanning Mobility Particle Sizer）是一個(gè)納米顆粒粒徑譜分析系統(tǒng)，實(shí)驗(yàn)室型由DMA+CPC5416組成檢測(cè)系統(tǒng)，19’機(jī)架式由DMA+CPC5420組成檢測(cè)系統(tǒng)，用于5nm ~ 1100nm的納米顆粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型設(shè)計(jì)特征，對(duì)小顆粒物有**分辨率和*低分散損失，根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求不同，有兩種長(zhǎng)度的電極。

圖 5420機(jī)架式CPC

測(cè)量原理

DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子電遷移器對(duì)顆粒物進(jìn)行分類，噴嘴將粗的顆粒去除，減少大顆粒的干擾；同時(shí)建議前置個(gè)靜電中和器，消除對(duì)電荷對(duì)氣溶膠顆粒的影響。頂端入口U型設(shè)計(jì)，可減少顆粒損失；頂端層流器，使氣流呈層流狀態(tài)流動(dòng)。潔凈干燥的鞘氣與樣氣氣流一起自上而下流動(dòng)。

DMA的外套筒接地，中心極桿接正壓高壓發(fā)生器。環(huán)境顆粒中帶負(fù)電荷的顆粒將在外套筒與中心極桿之間的電場(chǎng)中發(fā)生遷移。在某一電壓下(對(duì)應(yīng)一定的電場(chǎng)強(qiáng)度)，具有一定荷質(zhì)比的負(fù)電顆粒將遷移至DMA下端狹縫而逸出，其余荷質(zhì)比及其電中性、正電荷顆粒將隨過(guò)剩氣流被過(guò)濾排出。經(jīng)由狹縫逸出的顆粒為單分散氣溶膠顆粒，進(jìn)入CPC凝聚核粒子計(jì)數(shù)器（Condensation Particle Counters）對(duì)顆粒物進(jìn)行計(jì)數(shù)。

圖 系統(tǒng)工作原理

粒徑范圍

DMA根據(jù)粒徑范圍不同可以分為L(zhǎng)-DMA、M-DMA和S-DMA。

圖 差分粒子電遷移器DMA 圖 三種型號(hào)DMA

測(cè)試結(jié)果可靠

在2005年8月和9月加利福尼亞州中部Fresno，GRIMM儀器與其他品牌的SMPS系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量環(huán)境氣溶膠進(jìn)行測(cè)量結(jié)果比較。結(jié)果顯示GRIMM SMPS+C測(cè)量得到的粒子數(shù)濃度分布，與其他品牌測(cè)量得到的平均值相比，是可靠的?！綜omparison of four scanning mobility particle sizers at the Fresno Supersite (Chow 2006)】

產(chǎn)品特征

粒徑總范圍5 ~ 1094 nm

濃度范圍可達(dá)到10⁷P/cm³

Vienna型DMA，L-DMA與M-DMA可互相切換

堅(jiān)固可靠，丁醇安全特征（防水、除臭）

防溢出CPC飽和器設(shè)計(jì)

與軟件聯(lián)合使用，全自動(dòng)；開(kāi)機(jī)后自動(dòng)自檢，保證高可靠性

氣象傳感器的模擬輸入

全面的自檢以實(shí)現(xiàn)**的可靠性

產(chǎn)品應(yīng)用

基礎(chǔ)氣溶膠研究

吸入和暴露研究

環(huán)境和氣候研究

NP增長(zhǎng)、凝結(jié)及遷移研究

過(guò)濾檢測(cè)

移動(dòng)氣溶膠研究

工作場(chǎng)所監(jiān)測(cè)

操作軟件

可用于納米顆粒檢測(cè)儀器的通用軟件，可以記錄測(cè)量數(shù)據(jù)和一系列完整的儀器參數(shù)。結(jié)果以圖表形式顯示，可以輸出為通用的文件格式。軟件將CPC作為計(jì)數(shù)器，差分電遷移分析儀（DMA）作為粒徑分級(jí)的氣溶膠發(fā)生器。實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，算法由Reischl教授（維也納大學(xué)）開(kāi)發(fā)，符合計(jì)算粒徑分布的新標(biāo)準(zhǔn)ISO 15900。軟件顯示顆粒物數(shù)濃度、表面積和粒徑質(zhì)量分布及其他統(tǒng)計(jì)參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)