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        SOC-210 BDR高精度BRDF測量儀
        SOC-210 BDR高精度BRDF測量儀

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        產(chǎn)地

        美國

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        暫無
        北京安洲科技有限公司

        會員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

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        SOC-200 是一款高精度科研BRDF測量系統(tǒng),可以從可見到中紅外波譜范圍內(nèi)全自動測量樣品BRDF,實現(xiàn)光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數(shù)BRDF)制圖。BRDF數(shù)據(jù)可以提供研究材料光學(xué)性能所必須的方向反射信息,如表面能量散射的方向和強(qiáng)度

        主要特點:

        n 光譜范圍0.35~14μm(基于檢測器選項)

        n 測量本底噪聲<10-3sr-1

        n 可水平裝置粉末和液體樣品進(jìn)行測量

        n 重復(fù)性本底噪聲的5

        n 全自動測量四個角坐標(biāo) (Θ and Φ、入射及反射角)

        n 集成電控單元,用于快速處理、顯示和存儲數(shù)據(jù)

        n 自動帶通濾光輪,一次性測量十二種多光譜通道。

        n 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCTInSb檢測器,無人值守地全自動數(shù)據(jù)采集,自動切換標(biāo)樣樣品測量

        測量指標(biāo):

        n 全半球雙向反射分布函數(shù)BRDF

        非偏振BRDF

        線性偏振BRDF

        n 雙向透射分布函數(shù)BTDF

        應(yīng)用領(lǐng)域:

        n 航空工業(yè)

        n 國防

        n 航天

        n 行星探測

        n 涂層領(lǐng)域

        n 光學(xué)材料質(zhì)量控制

        技術(shù)參數(shù):

        數(shù)

        測量項目

        BRDF、BTDF

        光譜范圍

        0.35~14μm

        角度范圍

        ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85°

        ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350°

        ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85°

        ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360°

        角度精度

        0.1°

        光譜濾波

        標(biāo)準(zhǔn)商業(yè)化1英寸薄膜帶通濾光片

        自動化

        Θi,ΦiΘr,Φr,光源孔徑,濾光輪和樣/X

        光源

        Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower

        檢測器

        Si, InGaAs, dual InSb/MCT

        本底噪聲

        <10-3sr-1

        樣品尺寸

        1英寸圓片、粉末、液體

        運行

        PC控制,全自動測量

        尺寸

        53W x 53D x 75H

        產(chǎn)地:美國

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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