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隨著電子器件的不斷縮小，熱發(fā)生器和熱耗散變得越來越重要。微型熱顯微鏡可以測(cè)量并顯示溫度分布的半導(dǎo)體器件的表面，使熱點(diǎn)和熱梯度可顯示缺損位置，通常導(dǎo)致效率下降和早期故障的快速檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
檢測(cè)芯片的熱點(diǎn)和缺陷
電子元件和電路板故障診斷
測(cè)量結(jié)溫
甄別芯片鍵合缺陷
測(cè)量熱電阻封裝
應(yīng)用
激光二極管性能和失效分析
20微米/像素固定焦距
50度廣角聚焦鏡頭
320*240非制冷探測(cè)器
30幀/秒拍攝和顯示速度
0—300攝氏度測(cè)量范圍
室溫測(cè)量
便于使用——1分鐘安裝測(cè)量待命
紅外熱成像配套軟件
軟件提供了一套廣泛的分析工具
幫助客戶非常容易而快速獲取溫度信息。
實(shí)時(shí)的帶狀圖、拍攝及回放序列
不同視角和建設(shè)性的數(shù)據(jù)分析手段
熱點(diǎn)及缺陷鏈接方法
infrasight MI的紅外攝像機(jī)的靈敏度高結(jié)合先進(jìn)的降噪和圖像增強(qiáng)算法提供檢測(cè)和定位的熱點(diǎn)在半導(dǎo)體器件消耗小于1毫瓦的功率和升高溫度，表現(xiàn)出只有0.05攝氏度。短時(shí)間試驗(yàn)中，設(shè)備通常是供電的5到10秒。I/O模塊使**功耗是與軟件測(cè)試同步。測(cè)試平均電阻低于一歐姆短路檢測(cè)。因?yàn)榈碗娮瓒搪废?，只有少量的電和熱，一系列的測(cè)試可以一起平均提高測(cè)試靈敏度。自動(dòng)停止功能打開I/O模塊繼電器自動(dòng)切斷電源，對(duì)設(shè)備/板作為一個(gè)預(yù)先定義的閾值以上的短溫度升高。
這種安全功能可以幫助防止對(duì)設(shè)備/板損壞，同時(shí)定位時(shí)間。微量可用于測(cè)量功能的器件結(jié)溫。為了準(zhǔn)確測(cè)量結(jié)溫，一個(gè)模具的表面發(fā)射率的地圖必須首先被創(chuàng)建。該裝置是安裝在保溫階段控制在均勻的溫度。然后計(jì)算thermalyze軟件的表面，適用于熱圖像糾正發(fā)射率的變化在死像素的發(fā)射率的地圖像素。測(cè)量結(jié)溫，設(shè)備供電，**溫度區(qū)域內(nèi)圍交界處測(cè)量。
暫無數(shù)據(jù)！
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