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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀
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面議
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美國
樣本
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儀器簡介: Antaris II是**一代專業(yè)傅立葉變換近紅外光譜系統(tǒng),該儀器具備實(shí)驗(yàn)室研究級近紅外儀器所要求的**性能,能夠適應(yīng)工業(yè)操作環(huán)境。該儀器和技術(shù)的成功應(yīng)用將為企業(yè)成倍提高工作效率、節(jié)省大量日常常規(guī)樣品檢測成本。
技術(shù)參數(shù):
1. 一臺儀器可同時(shí)集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊,任何狀態(tài)的樣品均可以方便得到快速、精確的檢測分析
2. 采用Nicolet**的高光通量高速動態(tài)準(zhǔn)直電磁式干涉儀
3. 采用CaF2分束器,在近紅外光譜有效區(qū)域內(nèi)具有更高的能量分布
4. 各個(gè)分析模塊均采用對近紅外光靈敏度**的InGaAs檢測器
5. 儀器與電腦間采用標(biāo)準(zhǔn)USB接口
6. 低使用和維護(hù)成本
主要特點(diǎn):
1. 一臺儀器可同時(shí)集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊,任何狀態(tài)的樣品均可以方便得到快速、精確的檢測分析
2. 采用Nicolet**的高光通量高速動態(tài)準(zhǔn)直電磁式干涉儀
3. 采用CaF2分束器,在近紅外光譜有效區(qū)域內(nèi)具有更高的能量分布
4. 各個(gè)分析模塊均采用對近紅外光靈敏度**的InGaAs檢測器
5. 儀器與電腦間采用標(biāo)準(zhǔn)USB接口
6. 低使用和維護(hù)成本
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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀信息由森諾高科(北京)國際實(shí)驗(yàn)技術(shù)有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀報(bào)價(jià)、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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