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| EMP 2000A便攜式紅外發(fā)射率/反射率測定儀，可在3-35微米范圍內(nèi)測試半球反射率測試（總半球反射率），提供法線方向和半球方向300K環(huán)境條件下的發(fā)射率測定。 可取代已經(jīng)停產(chǎn)的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)GIER鄧克爾DB 100 E408標(biāo)準(zhǔn)。 TEMP2000A中采用的光學(xué)元件、鍍膜材料決定了其還可以在更寬的波長范圍進行測試。TESA2000是在溫度2000A基礎(chǔ)上增加光譜半球反射率測定功能，光譜范圍250～2500納米，主要用于太空材料太陽吸收特性測試。 波長<3微米> 35um（并不限定于過濾器，窗等）測量精度（鏡面反射和漫樣品）-灰色樣本滿量程的±1％- ±3％滿量程非灰樣品重復(fù)性- 滿量程的±0.5％或更好樣品類型任何樣品，包括金屬箔，絕緣體等樣品尺寸和幾何形狀- 平面：≥0.4英寸（1厘米）直徑- 凹面： ≥ 6.5英寸（16.5厘米）直徑-凸面：≥ 1英寸（2.5厘米）直徑 樣品溫度房間溫度，環(huán)境顯示的屬性- 紅外反射- 正常發(fā)射率（300K）-半球發(fā)射率（300K）讀數(shù)數(shù)字液晶面板米可選紅外發(fā)射率或反射率顯示測量范圍（反射率）0.00～1.00尺寸光學(xué)頭：直徑5.25“X 6.8”長控制和顯示單位：4.5×7.75×7英寸便攜包：12.5×17×11英寸重量光學(xué)頭：5磅，控制和顯示單元：4磅，攜帶箱：11磅保1年部件和人工 |
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