SPECTRAFIRE 有2種測(cè)試模式,**測(cè)量模式和相對(duì)測(cè)量 (差分式)模式。在**測(cè)量模式中,近法向如射,半球反射率通過(guò)與配有校正臂的內(nèi)置探測(cè)器直接測(cè)到。在這種情況下,無(wú)需校正。在相對(duì)測(cè)量(差分式)模式下,內(nèi)置校正臂不起作用,而是提供一個(gè)參考樣品進(jìn)行背景扣除,然后測(cè)試樣品。 此外,該系統(tǒng)通過(guò)特殊標(biāo)定的參考根據(jù)樣品的光譜,來(lái)得到不透明樣品的總半球發(fā)射率。使用Spectrafiar計(jì)算發(fā)射率并不需要知道光源的光譜,也不一定需要限定光源的色溫在300K. SPECTRAFIRE 還可以用于正確的測(cè)量300K以外的發(fā)射率和非灰體的 發(fā)射率。 準(zhǔn)直的紅外光束從Nicolet紅外光譜儀進(jìn)入到SPECTRAFIRE左邊的入口處。通過(guò)一個(gè)離軸拋物面鏡將該光束匯聚到樣品上。樣品口在系統(tǒng)的頂部,樣品置于**的收集器的頂部。入射光經(jīng)樣品反射并被收集匯聚到探測(cè)器上。探測(cè)器的信號(hào)由FTIR光譜儀進(jìn)行處理。.在收集器里還內(nèi)置一個(gè)光束偏離裝置,用于**測(cè)量時(shí)的背景扣除。該偏離裝置的反射率完全匹配收集器的反射率 。儀器里面的所有光學(xué)元件都鍍了非保護(hù)性金膜,以獲得在測(cè)試光譜范圍內(nèi)的**反射率。 |