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        OPTINO波前測(cè)試系統(tǒng)
        OPTINO波前測(cè)試系統(tǒng)

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        品牌

        產(chǎn)地

        意大利

        樣本

        暫無(wú)
        光傲科技股份有限公司

        會(huì)員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        Optino 波前探測(cè)系統(tǒng)

        不僅僅是一個(gè)波前探測(cè)系統(tǒng),

        更是一個(gè)完整光學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)

        不僅可以用于實(shí)驗(yàn)室光學(xué)測(cè)試,

        也可以適用于生產(chǎn)環(huán)境條件

        可測(cè)試的光學(xué)元件和系統(tǒng)
        • 透鏡、非球面透鏡
        • 相機(jī)、手機(jī)攝像等鏡頭測(cè)試
        • 棱鏡
        • 球面、非球面、平面鏡
        • 各種濾光片
        • 隱形眼鏡、眼科鏡片
        • 復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)
        • 平視顯示系統(tǒng)(HUD)
        • 研磨板
        • 晶圓(wafer)
        • 激光
        可測(cè)試評(píng)價(jià)的項(xiàng)目
        • 光學(xué)失常、像差測(cè)試
        • 波前或表面重建
        • 光學(xué)元件透過(guò)率測(cè)試
        • 平面度測(cè)試
        • 楔角測(cè)試
        • 復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)對(duì)準(zhǔn)
        • 準(zhǔn)直
        • 焦長(zhǎng)測(cè)試
        • MTF (調(diào)制傳遞函數(shù))
        • PSF (點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù))
        • Strehl ratio
        • 激光光斑品質(zhì)、光束、M2、發(fā)散角測(cè)試

        主要型號(hào)及功能特點(diǎn)

        產(chǎn)品系列

        主要特點(diǎn)

        Omi

        基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型,價(jià)格優(yōu)惠

        Optino Uno

        基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理,基本型增加一個(gè)固定的準(zhǔn)直器,用于光源準(zhǔn)直。具有所有光學(xué)分析所需的基本功能,包含光纖光源。

        • 15 種針對(duì)不同測(cè)試需求的配置

        • 無(wú)隔行快速讀出 1Kx1K 相機(jī)信號(hào)

        • 固定準(zhǔn)直器(平行光管)

        • 基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多項(xiàng)式系數(shù)、波陣面、Strehl Ratio 等.

        • 軟件根據(jù)測(cè)到的像散、球差等提供調(diào)校指令

        • 根據(jù)軟件的圖形指示,依據(jù)參照標(biāo)準(zhǔn)或鏡面的CCD像面,對(duì)光學(xué)元件的焦距進(jìn)行實(shí)時(shí)斜率調(diào)整

        • 圖像分析功能

        • 根據(jù)Shack-Hartmann 數(shù)據(jù)計(jì)算MTF、PSF、EE等數(shù)據(jù)(可選配置)

        • 仿真模擬功能(可選配置)

        Optino Pro 專(zhuān)業(yè)版

        具備Optino Uno 功能外, 增加馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的準(zhǔn)直器(平行光管),以及先進(jìn)的軟件功能,具備高度自動(dòng)化。準(zhǔn)直器可自動(dòng)尋找焦點(diǎn),也可對(duì)光束進(jìn)行分析。

        Optino EE 工程版

        具備Optino Pro 所有功能,具備更強(qiáng)大的軟件功能,并經(jīng)過(guò)優(yōu)化,可以使用生產(chǎn)環(huán)境中使用,測(cè)試速度快。采用回饋 環(huán)路控制,并以10Hz的采樣頻率進(jìn)行光學(xué)質(zhì)量測(cè)試。

        Optino+ Beam profiler 光束分析

        具備Optino Pro所有功能, 另外加裝第二個(gè)CCD,用于光斑形貌分析,光束失常及測(cè)量可同時(shí)在一臺(tái)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)。

        干涉儀與波前探測(cè)系統(tǒng)比較
        Optino 波前測(cè)試系統(tǒng)相對(duì)于干涉儀的優(yōu)點(diǎn)
        干涉儀 Optino 波前系統(tǒng)
        1購(gòu)買(mǎi)、運(yùn)行、維護(hù)費(fèi)用高非常便宜
        2系統(tǒng)體積大,需要大型光學(xué)平臺(tái)結(jié)構(gòu)緊湊,普通桌子就可以
        3需要昂貴的隔振平臺(tái)非常耐用,無(wú)需隔振,普通桌子就可以,即使重?fù)糇雷右膊粫?huì)影響測(cè)試結(jié)果或儀器性能
        4需要潔凈室普通干凈的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境足夠了
        5需要控制測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)的氣流可以在緊靠打磨機(jī)器工作現(xiàn)場(chǎng)使用
        6需要激光光源普通光源或激光均可
        7由于激光波長(zhǎng)范圍有限,只能工作在有限的幾個(gè)波長(zhǎng)任何波長(zhǎng)均可工作,從193nm到1700nm,軟件功能不受波長(zhǎng)和配置的影響
        8僅限于測(cè)試平面、球面及淺度非球面測(cè)試可以測(cè)試深度非球面元件(球形失常值達(dá)50λ
        9不能測(cè)試非規(guī)則形狀元件可以測(cè)試非規(guī)則元件,如柱面鏡
        10動(dòng)態(tài)范圍受CCD探測(cè)器上干涉條紋限制,方法本身具有高動(dòng)態(tài)特性
        Optino Pro vs. Zygo GPI xp HR Interferometer:

        通過(guò)使用Zygo GPI xp HR干涉儀和Spot-Optics公司的Optino 波前測(cè)試系統(tǒng)對(duì)一個(gè)硬盤(pán)上小面積(7mm)區(qū)域,進(jìn)行測(cè)試對(duì)比。

        右圖白色圓圈位置的區(qū)域即為測(cè)試區(qū)域,是一個(gè)平整的表面,測(cè)試的波長(zhǎng)為632nm,下圖為主要測(cè)試得到的參數(shù)對(duì)比:

        去除了傾斜(Tilt), Piston and 散焦 (defocus)影響后的表面3D形貌圖( Zygo ) 去除了傾斜和散焦的3D表面形貌圖(Optino)
        由上可見(jiàn):基于Shack-Hartmann 測(cè)試原理的Optino 可以獲得與Zygo干涉儀一致的測(cè)試結(jié)果

        創(chuàng)新點(diǎn)

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        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性?xún)r(jià)比

        10分
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        OPTINO波前測(cè)試系統(tǒng)信息由光傲科技股份有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于OPTINO波前測(cè)試系統(tǒng)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。
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