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紅外雙折射分布測量設(shè)備
WPA-NIR
主要特點
l紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
l硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變評估
l小型、簡単操作、高速測量
WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)
可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』，也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場
WPA-NIR的功能
1.高速測量面的雙折射/相位差分布
NIR波長僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
2.測量數(shù)據(jù)的保存/讀取
全部的測量結(jié)果都可以做保存/讀取。易于跟過去的測量結(jié)果做比較等
3.豐富的圖形創(chuàng)建功能
從測量后的面信息，可以自由制作線圖形和直方圖。復(fù)數(shù)的測量結(jié)果可以在一個圖形上做比較，也可以用CSV格式輸出
主要技術(shù)參數(shù)
型號 | WPA-NIR |
測量范圍 | 0~425nm(光源波長為850nm) 0~470nm(光源波長為940nm) |
重復(fù)性 | <1.0nm |
像素數(shù) | 384*288 pixels |
測量波長 | 850nm or 940nm |
尺寸 | 200x220x313mm |
自身重量 | 5kg |
暫無數(shù)據(jù)！
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