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Sonoscan超聲波掃描顯微鏡
——超聲波無損檢測系統(tǒng)
從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間,Sonoscan的先進(jìn)聲學(xué)顯微鏡儀器和技術(shù)可以幫助您生產(chǎn)更高質(zhì)量的產(chǎn)品。Sonoscan儀器有著極高的技術(shù)含量,并且提供一流的客戶服務(wù)和支持。
FastLine™ P300™
一種緊湊型聲學(xué)顯微監(jiān)控儀,專為工廠提供的**生產(chǎn)和過程控制。
FACTS2™
高級質(zhì)量監(jiān)控儀器,可以以生產(chǎn)速度提供高分辨率的聲學(xué)顯微成像,并且只需操作員做極少的控制。
AW™系列
自動晶圓系列的超聲顯微檢測設(shè)備,可以自動處理,檢測和并根據(jù)操作人員制定的"合格與不合格"標(biāo)準(zhǔn)對晶圓進(jìn)行分類。
Gen6™
新一代具有技術(shù)創(chuàng)新,尖端技術(shù)和****的功能的C-SAM®,把超聲顯微成像帶上了一個新的水平。
Gen5™
一種創(chuàng)新的聲學(xué)顯微監(jiān)控儀,可提供*廣泛和***的功能。
D9™系列
這個系列的設(shè)備**聲像顯微技術(shù)的新標(biāo)準(zhǔn)。為失效分析,工藝開發(fā)和材料特性檢測提供了****的精準(zhǔn)和靈活性。
D24™
超大的掃描區(qū)(24” × 24”),非常適合較大面積的樣品檢驗(yàn)、印刷電路板元件檢驗(yàn)和多種JEDEC 盤檢驗(yàn)。
Sonoscan技術(shù)
AMI技術(shù)的杰出之處在于其能夠在組件和材料中找出可能在生產(chǎn)或環(huán)境測試過程中出現(xiàn)的隱藏的缺陷。相比其他檢驗(yàn)方法,使用AMI技術(shù)可以更有效地識別和分析分層、氣泡和裂縫等缺陷。
不同于X射線和紅外成像等其他無損檢測技術(shù),AMI技術(shù)對材料彈性有著極強(qiáng)的敏感性。正因?yàn)槿绱耍?/span>AMI查找和定性這些物理缺陷的能力明顯要優(yōu)越很多。AMI通常可應(yīng)用于生產(chǎn)控制、破損分析和產(chǎn)品開發(fā)。
Sonoscan提供多種成像模式,操作員可以根據(jù)樣品內(nèi)部取向特征獲得有關(guān)檢驗(yàn)樣品的**透視圖。此外,通過利用我們的專有先進(jìn)功能,Sonoscan可以提供**的圖像、**的效率和*理想的結(jié)果。
AMI技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)
·在出故障之前把隱藏的缺陷找出來
·將薄達(dá)200埃的脫層檢測出來
·材料性能變化定位
·測量材料密度,孔隙度,夾雜物
·探測裂縫和孔洞
·評估熱,沖擊和疲勞損傷
·對被測材料無損傷
**地位
在聲學(xué)顯微成像(AMI)技術(shù)應(yīng)用于內(nèi)部品質(zhì)無損檢測與分析方面,Sonoscan一直是該行業(yè)的權(quán)威之一。Sonoscan系統(tǒng)被視為精確基準(zhǔn),通過我們的SonoLab™ 部門,您可以向我們的聲學(xué)應(yīng)用工程師進(jìn)行咨詢,獲取專業(yè)意見和指導(dǎo)。
Sonoscan的創(chuàng)始人與總裁Lawrence Kessler博士是一位超聲波學(xué)與成像系統(tǒng)領(lǐng)域的專家。Kessler博士致力于通過教育項(xiàng)目、客戶應(yīng)用程序評估與新系統(tǒng)開發(fā)來實(shí)現(xiàn)AMI技術(shù)的持續(xù)改進(jìn)。對AMI技術(shù)的專業(yè)研究是Sonoscan工作的核心。我們努力提供非凡的數(shù)據(jù)精確性、出眾的圖像質(zhì)量和****的技術(shù)。我們在AMI技術(shù)方面還擁有多項(xiàng)美國和外國**。總之,Sonoscan是您*值得信任的伙伴,我們可以為您節(jié)省成本并提高效率。
與 Sonoscan 合作的業(yè)界***:
·全球10大半導(dǎo)體公司
·10大汽車半導(dǎo)體公司中的9家公司
·10大國防承包商中的7家承包商
·5大MEMS生產(chǎn)商中的4家生產(chǎn)商
市場應(yīng)用
Sonoscan 系統(tǒng)與SonoLab實(shí)驗(yàn)室服務(wù)可滿足多種樣品檢驗(yàn)需要,并可以檢測到使用傳統(tǒng)檢驗(yàn)方法無法檢測到的隱蔽缺陷。
應(yīng)用領(lǐng)域包括:
微電子學(xué)領(lǐng)域
- 塑料封裝IC
- 陶瓷電容器
- 模片固定、載芯片板(COB)
- 芯片型封裝(CSP)
- 倒裝晶片
- 堆疊型封裝
- 卷帶式自動接合(TAB)
- 混和技術(shù)、MCM、SIP
- 柔性電路
- 印刷電路板(PCB)
- 智能卡
- 粘結(jié)晶片
- IMEMS
微電子機(jī)械系統(tǒng) (MEMS)
- 粘結(jié)晶片
- 制造工藝評估
- 包裝
軍事/航空/汽車
- 高可靠性資格篩選
- 產(chǎn)品升級篩選
- 資格篩選
IGBT 功率模塊
用超聲檢測GBT模塊
材料
- 陶瓷、玻璃
- 金屬、粉末金屬
- 塑料
- 合成物
其他
- 芯片實(shí)驗(yàn)室、生物芯片和微陣列芯片
- 濾筒
- 包裝、密封
- 微射流技術(shù)
- 聚乙烯/箔袋
- 焊件
- 傳感器
暫無數(shù)據(jù)!