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TA/MPT多樣的豌豆測試裝置
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成，樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒，并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強度等參數(shù)。
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