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TA/MPT多樣的豌豆測(cè)試裝置
該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成,樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒,并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品,可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。
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