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Nova NanoSEM; 掃描電子顯微鏡能夠在一臺易于使用的儀器中提供一流的成像和分析性能。Nova NanoSEM 經(jīng)過特別設(shè)計(jì)，旨在簡化實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的操作，使所有者能夠在*短時(shí)間內(nèi)得到*全面的結(jié)果。這無疑能提高工作效率，同時(shí)又未削弱日常工作中所需的高質(zhì)量成像功能。
使用 Nova NanoSEM 50 系列時(shí)，越來越多的不可能正在變成可能。除了由尖端光學(xué)裝置（包括雙模式末級透鏡）、SE/BSE（次級電子/反散射電子）透鏡內(nèi)檢測和電子束減速裝置構(gòu)成的強(qiáng)大系統(tǒng)外，Nova NanoSEM 50 系列還推出了全新系列的**一代高靈敏度、可回縮式 SE/BSE 和 STEM 檢測器以及多功能 SE/BSE 濾波功能，從而以**方式優(yōu)化感興趣的信息。智能掃描模式可用來**限度減少成像偽影。
在材料實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，儀器必須足夠靈活，可以在處理眾多類型樣本時(shí)提供精確的信息，而且成像和分析性能也要滿足所有者的要求。使用 Nova NanoSEM 時(shí)，您可以根據(jù)研究的樣本類型或需要開展的分析工作類型，輕松切換儀器工況。
處理眾多類型的樣本，拓寬研究領(lǐng)域
使用獨(dú)特的低真空功能和超高分辨率低電壓成像表征眾多類型的樣本；在高真空模式下，低電壓 [1 kV] 分辨率為 1.4 nm，而對于不導(dǎo)電材料，Nova NanoSEM 更具有獨(dú)特優(yōu)勢，可在低電壓 (3 kV) 下提供**分辨率 (1.8 nm)。
既可提供高電流束（這是迅速開展 EDS/EBSD/CL/分析研究所必需的），也能在高電壓和低電壓下提供高分辨率（處理眾多類型樣本時(shí)，這是提供高質(zhì)量圖像所必需的）
在低真空模式下具有**的性能，為您提供更強(qiáng)大的分析能力 - 需要為玻璃、陶瓷或其他不導(dǎo)電材料提供高質(zhì)量分析數(shù)據(jù)時(shí)。
暫無數(shù)據(jù)！
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