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簡(jiǎn)介

美國(guó)應(yīng)用光譜公司 (Applied Spectra Inc.)專(zhuān)注研究激光剝蝕和光譜分析技術(shù)的高技術(shù)公司。 研發(fā)人員均為美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的研究人員。 公司總裁Richard Russo 博士為美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的資深科學(xué)家， 從事激光剝蝕及激光光譜元素分析技術(shù)三十多年， 創(chuàng)造性的將激光剝蝕技術(shù) (Laser Ablation， LA) 及激光誘導(dǎo)擊穿光譜（Laser Induced Breakdown Spectroscopy， LIBS)相融合， 研發(fā)了J200系列激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)及光譜分析系統(tǒng)。

J200 納秒激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了LIBS與LA-ICP-MS的同時(shí)測(cè)量，并具備多種測(cè)量功能： 可測(cè)量常量， 微量和同位素 (與ICP-MS串聯(lián))；分析有機(jī)元素及輕元素； 元素三維空間分布；校正ICP-MS質(zhì)譜信號(hào)。主要用于地質(zhì)礦物，土壤，植物，合金，新能源材料 (例如鋰電池材料)， 刑偵證據(jù)等樣品的剝蝕進(jìn)樣及化學(xué)成分分析。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)可與市面上的四級(jí)杠質(zhì)譜儀， 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀和高分辨質(zhì)譜儀串聯(lián)使用。

J200 LA-LIBS復(fù)合系統(tǒng)特色

高穩(wěn)定Q開(kāi)關(guān)， 短脈沖Nd:YAG 激光 ，可選擇多波長(zhǎng) < 5 nsec at 213 nm ，創(chuàng)新的模組化設(shè)，為獨(dú)立 LA， LIBS， LA - LIBS 復(fù)合的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。因分析需求，提供三種LIBS 檢測(cè)器選擇 ，激光剝蝕均勻且一致性的LA系統(tǒng) 。

穩(wěn)定激光能量的光閘設(shè)置

高分辨雙CMOS相機(jī)系統(tǒng)， 可用于寬視野觀(guān)測(cè)樣品表面特征 。應(yīng)用光譜公司的 Flex 樣品室內(nèi)置氣體模組可優(yōu)化氣流和顆粒清潔能力，滿(mǎn)足不同測(cè)量要求，先進(jìn)的微集氣管設(shè)計(jì)，可盡可能的減少排氣，防止集結(jié)剝蝕顆粒，消除記憶影響。

雙通道高精度質(zhì)量流量控制器和電子控制閥

Axiom LA 軟件系統(tǒng)

軟件可整合控制硬件組件及ICP-MS 同pu步操作，輕松實(shí)現(xiàn)繁雜的激光采樣與分析模式 ，強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析工具用于繁雜的LIBS and LA-ICP-MS 串聯(lián)光譜分析，LIBS 化學(xué)計(jì)量法軟件分辨分類(lèi)分析

靈活的分析方法：全分析，夾雜物分析，斑點(diǎn)分析，深度分析和元素分映像

維護(hù)成本低

可擴(kuò)充升級(jí)LA – LIBS 復(fù)合系統(tǒng)

可擴(kuò)充升級(jí)飛秒 LA 系統(tǒng)

自動(dòng)樣品高度調(diào)整功能

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)采用ASI**技術(shù)：剝蝕導(dǎo)航激光和樣品高度自動(dòng)調(diào)整傳感器相結(jié)合，解決了若樣品表面凹凸不平而剝蝕不均、導(dǎo)致元素含量值誤差大的問(wèn)題；激光能量穩(wěn)定閥確保了到達(dá)樣品表面的激光能量均勻，使所有采樣點(diǎn)的激光燒蝕均勻一致；3-D全自動(dòng)操作臺(tái)**行程可達(dá)100mmx100mmx36mm，XY行程分辨率0.2μm，Z行程分辨率0.1μm， 優(yōu)于其它任何同類(lèi)產(chǎn)品。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)采用ASI**技術(shù)可對(duì)固、液、氣等樣品進(jìn)行全元素LIBS快速檢測(cè)，同時(shí)可將固體樣品的剝蝕顆?；蛘咭后w樣品直接送入ICP-MS系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)精確分析。彌補(bǔ)了ICP-MS不能測(cè)量部分輕元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁雜的樣品前處理過(guò)程及可能引入的二次污染。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配置有高適連接口，輕松實(shí)現(xiàn)與市面上絕大多數(shù)主流品牌ICP-MS的聯(lián)用。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配備有固體樣品室，還可根據(jù)用戶(hù)需求同時(shí)配置氣體、液體樣品室，并通過(guò)設(shè)置可自動(dòng)切換的光路系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)固、液、氣體樣品室在同一系統(tǒng)中的自動(dòng)化切換，測(cè)量過(guò)程中無(wú)需人為拆卸。

J200激光剝蝕及激光誘導(dǎo)擊穿光譜復(fù)合系統(tǒng)配置：

主機(jī)系統(tǒng)：包括激光器及控制系統(tǒng)，激光傳輸光學(xué)元件，樣品臺(tái)、樣品室、氣體管路系統(tǒng)等、樣品成像系統(tǒng)等；

等離子體光譜檢測(cè)器：Czerny Turner光譜儀/ICCD相機(jī)、階梯光柵光譜儀/ICCD相機(jī)、同步4/6通道CCD光譜儀三種LIBS檢測(cè)器可選；

軟件系統(tǒng)：系統(tǒng)操作軟件、數(shù)據(jù)分析軟件、TruLIBS發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫(kù)、化學(xué)統(tǒng)計(jì)軟件。