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Innovate T5型全譜直讀光譜儀采用國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計和制造工藝技術(shù),應(yīng)用了日本濱松公司先進(jìn)的CMOS信號采集元件,每塊CMOS都可以單獨設(shè)置火花個數(shù),與國際光譜儀先進(jìn)技術(shù)同步,采用真空光室設(shè)計及全數(shù)字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設(shè)計合理,操作簡單易學(xué),具有數(shù)據(jù)精確,長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。
鑄造、冶金、機械加工、消防、航空航天、金屬加工、金屬材料質(zhì)量鑒定、新材料開發(fā)
CCD+CMOS全譜分析技術(shù)
豐富的譜線信息,分析靈敏線更多,保證分析的準(zhǔn)確度;
基于全譜測量的數(shù)據(jù),能夠正確區(qū)分背景和譜線,有效提高測量精度;智能選擇合適的靈敏線,通過多譜線結(jié)合技術(shù),實現(xiàn)低中高含量段的檢測需求;
基于全譜測量數(shù)據(jù)的多峰擬合技術(shù),有效消除譜線干擾,實現(xiàn)精確測量;
標(biāo)準(zhǔn)工廠校準(zhǔn)曲線
在分析過程中實時進(jìn)行光譜漂移校正,增強儀器穩(wěn)定性;減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù),延長校正周期;自動完成儀器校正,操作更加簡便;豐富的譜線信息,分析靈敏線更多,保證分析的準(zhǔn)確度;
獨特的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD
CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應(yīng)速度;
CMOS相比CCD具有更好的線性度;
CMOS相比CCD具有極高的紫外光敏感度,在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準(zhǔn)確。
**CMOS全譜接收技術(shù);
人性化一鍵激發(fā),一鍵緊急停止;
一體化光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計;
可編程脈沖全數(shù)字光源技術(shù);
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體;
波長范圍140-680nm,可滿足更多元素的分析要求。
技術(shù)參數(shù)
光學(xué)系統(tǒng) | 帕型-龍格結(jié)構(gòu) 多片高分辨率CMOS/CCD檢測器 光柵焦距:401mm 波長范圍:140-680nm 一體化光室設(shè)計 光室抽真空設(shè)計 | 激發(fā)光源 | 可編程脈沖全數(shù)字光源 高能預(yù)燃技術(shù) 放電電流:400A 放電頻率:100-1000Hz 引燃點火脈沖:1-14KV 火花激發(fā)脈沖:20-230V 電弧激發(fā)脈沖:20-60V | 電源及環(huán)境要求 | 工作電源:(220±20)V AC, (50±1)Hz,保護(hù)性接地的單項電源 火花激發(fā)時功率:400VA 待機平均功率:50VA 工作溫度:10-30℃ 存儲溫度:0-45℃ 工作濕度:20-80%RH |
樣品激發(fā)臺 | 開放式樣品激發(fā)臺 滿足特殊應(yīng)用的各類樣品夾具 優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計 易于清理與維護(hù) | ||||
尺寸重量 | 尺寸:780*565*360mm 重量:78Kg | 氬氣要求 | 純度要求:99.999% 進(jìn)口壓力:0.5MPa 流量:激發(fā)流量約3.5L/min |
暫無數(shù)據(jù)!