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膜厚測量儀
通過薄膜表面與基底材料反射光的干涉現(xiàn)象，可快速可靠地測量半透明及透明膜的厚度。非接觸式測量，不會破壞測試樣品。
NanoCalc測試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源、高性能線陣CCD光譜儀、傳輸光纖、樣品測試臺及測量分析軟件。NanoCalc膜厚測量儀適合于在線膜厚測量，包括氧化層、氮化硅薄膜，感光膠片及其它類型的薄膜，NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗膜涂層。
NanoCalc膜厚儀基本性能：
●基本型號：NanoCalc-UV/VIS/NIR & NanoCalc-UV/VIS & NanoCalc-VIS/NIR
●光譜范圍：250~1100nm(UV/VIS/NIR) & 900-1700nm(512-NIR)
●膜厚分辨率：0.1nm
●測量時間：100ms~1s
●多達10層膜厚測量
●快速響應：在線測量
●基底材料：鋼/鋁/銅/陶瓷/塑料等
●新型號：NanoCalc-MIK中整合攝影機
●材料庫： 400種材料的n和k值且可添加
●應用場合：氧化物/SiNx/感光保護膜/半導體膜
NanoCalc膜厚儀應用軟件◆膜厚測量/n&k值測量◆用戶自定義材料層結構◆自動調(diào)整積分時間◆層材料信息分層顯示
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