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高分辨率X射線三維檢測系統(tǒng)是一種能夠檢測任何物體并在檢測中保持物體不被損壞的一種檢測方式?，F(xiàn)已成為工業(yè)、材料、環(huán)境、生命科學(xué)等領(lǐng)域中常見的檢測方法之一適用于對樣品進(jìn)行無損檢測、故障分析、過程控制等。

ProCon X-Ray GmbH作為先進(jìn)的X射線計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)的制造商，在微納米級CT用于3D故障分析和3D計量等，已擁有10多年的檢測經(jīng)驗(yàn)。ProCon X-Ray推出的3D和4D CT（帶運(yùn)動的3D）分析系統(tǒng)能提供高品質(zhì)的圖像，幫助您在質(zhì)量控制需求中提供高分辨性和差異化的功能。

CT-COMPACT NANO是一款緊湊的臺式高分辨率X射線三維檢測系統(tǒng)，滿足各種高應(yīng)用需求。除塑料和陶瓷外，ProCon X-Ray GmbH的CT-COMPACT可計算測試吸收材料，如金屬和更大的測試件，具有優(yōu)異的可視化質(zhì)量。

節(jié)省空間的CT-COMPACT NANO可根據(jù)客戶要求配備高達(dá)160 kV的微焦X射線管。為了優(yōu)化對比度，可以改變檢測器距離。對于高放大倍率，可以使用不同的平板探測器。水平定向的X射線束使CT掃描不受重力影響。

CT-COMPACT NANO非常適用于非破壞性測試、材料分析和尺寸測量，尤其適用于內(nèi)部結(jié)構(gòu)、底切和自由曲面的檢測。

適用于廣泛的行業(yè)：石油和天然氣、汽車、電源、牙齒、航天、大學(xué)研究等。

特征

·操作簡便

·非接觸式計量

·興趣量-掃描

·質(zhì)量控制獨(dú)立于材料

·缺陷識別（空洞，裂縫......）

·不同的重建算法過濾反投影，代數(shù)，統(tǒng)計

·多個掃描軌跡Circular，Helix，Planar等等

·許多掃描軌跡的視野擴(kuò)展

·體積縮放（Hounsfield）

·環(huán)形偽像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金屬偽影減少

·用于漂移補(bǔ)償?shù)亩秳有Ｕ?/span>

·相位和暗場對比度選項(xiàng)

·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面

·批處理和掃描計劃

·時間分辨CT掃描（4D CT）

·原位選項(xiàng)

·實(shí)時CT重建

·使用Flat- panel探測器快速掃描<10秒

·“Industriepreis 2018”-獲獎?wù)?/span>