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適用于電子電工產(chǎn)品、 儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存 特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù)：

高低溫（交變）試驗(yàn)箱/可程式高低溫測(cè)試箱的詳細(xì)資料：

WGD高低溫（交變）試驗(yàn)箱

特點(diǎn)：

采用進(jìn)口可編程溫度器，無(wú)超調(diào)專家PID算法，溫度控制穩(wěn)定可靠，操作簡(jiǎn)單，程式編輯容易；

獨(dú)特的進(jìn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，避免了氣流在箱內(nèi)流通死角，提高了產(chǎn)品均勻度；

全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級(jí)/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，制冷效果好，可靠性高；

完善的安全保護(hù)裝置，確保產(chǎn)品的運(yùn)行更加安全可靠；

多樣的溫度控制器可供用戶選擇；

用途

適用于電子電工產(chǎn)品、 儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲(chǔ)存

特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

2.GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

3.GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

4.GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1 試驗(yàn) A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法；

5.GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2 試驗(yàn) B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法；

6.GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法；

7.GJB150.3-1986高溫試驗(yàn)；

8.GJB150.4-1986低溫試驗(yàn)；

9.IEC68-2-14 試驗(yàn)N。

■ 附件

不銹鋼擱板 2 套，說(shuō)明書(shū) 1 套，電纜孔（Φ 50 ）蓋 1 個(gè)

■ 可選附件

增加擱板，RS232通信接口

注： ＊1、以上產(chǎn)品外尺寸不包含突出部分

2、以上技術(shù)參數(shù)在室溫23℃±2°C，無(wú)負(fù)荷條件下測(cè)得的數(shù)據(jù)

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字：高低溫（交變）試驗(yàn)箱;可程式高低溫測(cè)試箱;高低溫試驗(yàn)機(jī)