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全光譜透射比測量儀的應(yīng)用
全光譜透射率測量儀（TSM）可以測量非常廣泛的產(chǎn)品，如：玻璃鏡片、汽車絕緣紙、建筑絕緣紙、玻璃、燈罩、濾波器、晶片、LED擴(kuò)散器等。
全光譜透射比測量儀的優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)
•超小型，便攜式。
•校準(zhǔn)要求低，維護(hù)成本低。
•定制靈活性
•高分辨率可編程設(shè)計(jì)微控制器
•抗震、防震。
•方便的數(shù)據(jù)存儲。
•清晰易懂的數(shù)據(jù)輸出格式。
•穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)。
•測量的光譜參數(shù)
•特定波長
•可見光平均透過率
•透射率顏色
•CIE
•CCT
•CRI
OHSP-660T光譜透過率測試儀集光譜、透過率、飽和度、L、A、B等測量 功能于一體。采用5英寸大屏，各測量參數(shù)及曲線實(shí)時顯示，使用方便快捷，可 直接測試材料和鏡片的透過率測試。
| 光譜透過率Transmittance(%) | 總透光率Total Transmittance(%) | 吸光度absorbance | 截止波長Cut-off wavelength（nm） |
| 明暗度Degree of brightnessL* | 紅綠度Red green degree a* | 黃藍(lán)度Yellow blue degree b* | 飽和度saturation C*< |
| 色調(diào)角Tone H* | 照度Illuminance(lx) | 色溫CCT K | 峰值波長Peak Wave(nm)< |
| 半寬度Half width(nm) | 主波長Dominant wave(nm） | 色純度purity（%） | OHSP350其他基礎(chǔ)參 |
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