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產(chǎn)品概述
§ SYNAPT XS質(zhì)譜儀具有**靈活性，可提供更大的選擇自由度。
§ 憑借沃特世高級質(zhì)譜“SELECT SERIES”傳承下來的技術基石，內(nèi)置先進的創(chuàng)新技術，確保使用該平臺的科學家處于質(zhì)譜分析的*前沿，同時維持SYNAPT的易用性和成熟的客戶端工作流程。
§ 重新設計的分段四極桿傳輸光學元件，提升棘手化合物的分析靈敏度，同時進一步提高分析穩(wěn)定性。
§ 針對*復雜的樣品，提供兼容UPLC的質(zhì)量分辨率、耐受各種基質(zhì)的動態(tài)范圍和定量分析結(jié)果，同時提供**的性能指標。
優(yōu)勢特點
§ 創(chuàng)新技術作為基石，提供**異的分析性能
§ SONAR和HDMSE提供一套獨特的工具包，用于解析復雜混合物。
完整的分析策略需要結(jié)合適當?shù)幕パa技術才能得到更全面的數(shù)據(jù)信息。借助SYNAPT XS上基于SONAR和IMS的非數(shù)據(jù)依賴型采集(DIA)操作模式，分析人員能夠利用互補機制，以****的方式解析復雜混合物。
§ 離子淌度功能大大增加了峰容量和分析選擇性
§ 傳統(tǒng)質(zhì)譜儀基于m/z分離組分。SYNAPT XS還支持在離子淌度實驗中，使用分子大小、形狀和電荷作為其碰撞截面(CCS)的函數(shù)，對分子進行分離。
§ CCS測量可提高化合物鑒定的準確性
離子CCS的測量結(jié)果有助于確定離子名稱或研究其結(jié)構。運用離子淌度技術，顯著提高了科學家分析復雜混合物和復雜分子的范圍和可信度。
§ CID與ETD碎裂功能
TriWave的雙碰撞室結(jié)構可進行碰撞誘導解離(CID)和/或電子轉(zhuǎn)移解離(ETD)碎裂，且分辨率高、質(zhì)量測定準確，能夠拓展MS/MS檢測能力。
§ TAP碎裂
配置
離子源 | ESI、ESCi®、APCI、APPI、APGC、ASAP和 ionKey/ MS™ |
傳輸模式 | UPLC/Tof MRM |
數(shù)據(jù)采集 | UPLC/MSE |
碰撞室 | XS碰撞室 |
數(shù)據(jù)分析 | UPLC/FastDDA |
暫無數(shù)據(jù)！
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