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J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）該設(shè)備是ASI生產(chǎn)，美國(guó)勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的科研人員進(jìn)行技術(shù)的研究，具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗(yàn)，對(duì)于激光、光譜儀器、成像系統(tǒng)、計(jì)算及電子器

件具有豐富的經(jīng)驗(yàn)，發(fā)表學(xué)術(shù)論文300余篇，J200 Femto iX LA源自于應(yīng)用光譜公司旗艦級(jí)LA飛秒J100系統(tǒng)，數(shù)字化質(zhì)量流量控制器（MFC）和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補(bǔ)充氣體的輸送。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

1、高分辨率的雙CMOS鏡頭，用于高倍放大和大視野預(yù)覽，支持光學(xué)變焦；

2、智能運(yùn)輸氣體控制，自動(dòng)調(diào)整樣品高度；

3、固態(tài)鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析；

4、雙路數(shù)字流量控制器，可選第三個(gè)流量控制器（用于氮?dú)饣蚱渌麣怏w）；

5、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補(bǔ)充氣體的輸送；

6、串聯(lián)LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）附加功能；

7、采用長(zhǎng)激光脈沖的系統(tǒng)，會(huì)發(fā)生多種熱過(guò)程，改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學(xué)成分，如改變熱特性等；

8、激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)可以提供廣角視野和高倍成像，以精確地研究精細(xì)區(qū)域；

9、具有直觀友好的圖形用戶界面，可瀏覽不同樣品區(qū)域，并建立靈活的激光采樣方案；

10、系統(tǒng)軟件提供大的視頻窗口，顯示清晰的、詳細(xì)的樣品圖像；

11、緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)，負(fù)擔(dān)得起的費(fèi)用，維護(hù)成本低；

12、不論高度差異如何，在所有采樣點(diǎn)上提供相同的激光通量，并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現(xiàn)一致的激光剝蝕；

13、時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時(shí)間相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差）統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)值；

14、高精度，準(zhǔn)確度和靈敏度，緊湊型高重復(fù)率飛秒激光器，高分辨率3D樣品臺(tái)。

應(yīng)用須知：

1、使用J200 LA儀器實(shí)現(xiàn)超靈敏電感耦合等離子體質(zhì)譜（LA-ICP-MS）分析：玻璃樣品研究。

2、Applied Spectra Inc.的J200 LA儀器與ICP-MS連接以建立品質(zhì)因數(shù)。分析了NIST玻璃SRM（玻璃中的痕量元素）以確定可以檢測(cè)的質(zhì)量并確定檢測(cè)限（LOD）。

J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）進(jìn)行有效的時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)處理，簡(jiǎn)單的定量分析，核心是緊湊而堅(jiān)固的激光源，J200 Femto iX具有硬核的硬件設(shè)計(jì)，包括智能運(yùn)輸氣體控制，自動(dòng)樣品高度調(diào)節(jié)，高分辨率3D樣品臺(tái)，創(chuàng)新的樣品池和LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）附加功能，主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件、Flex樣品室、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測(cè)器。為了節(jié)省寶貴的實(shí)驗(yàn)臺(tái)空間，激光電源模塊可以從主機(jī)中分離出來(lái)，放置在實(shí)驗(yàn)臺(tái)下面。