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        FEI掃描電鏡SEM Helios NanoLab
        FEI掃描電鏡SEM Helios NanoLab

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        Helios NanoLab 的材料科學(xué)應(yīng)用

        在材料科學(xué)領(lǐng)域,研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設(shè)備的質(zhì)量。為了實現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步,在納米量級了解結(jié)構(gòu)和成分細(xì)節(jié)至關(guān)重要。Helios NanoLab 設(shè)計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察,讓研究人員能夠觀測樣本*微小的細(xì)節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備**質(zhì)量的樣本。此外,如果研究工作包括開發(fā) MEMS 或 NEMS 器件,也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。

        Helios NanoLab 的電子工業(yè)應(yīng)用

        Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺,既能以極高的效率制備 TEM 樣本,又能開展高性能低電壓成像以分析高級邏輯和存儲器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個配置,效率極高,并且是面向?qū)嶒炇液徒a(chǎn)環(huán)境的低每樣本成本半導(dǎo)體分析工作流的關(guān)鍵組成部分。

        Helios NanoLab 的生命科學(xué)應(yīng)用

        要想在三維背景下了解生物事件,就必須采用專用的成像解決方案,而且這些成像解決方案應(yīng)能以極高的分辨率呈現(xiàn)極小的細(xì)節(jié),從而揭示出復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的超微結(jié)構(gòu)和空間結(jié)構(gòu)。Helios NanoLab 具有**的 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力,還配備了高精度壓電工作臺,堪稱小型 DualBeam 平臺的**之選。出色的成像能力,輔以透鏡內(nèi)和柱內(nèi)檢測器提供的尖端高對比度檢測技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)真正**的對比度。

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