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超納NanoX-S 3D光學(xué)干涉輪廓儀設(shè)備,外觀精致小巧,體積小,重量輕,測(cè)量精度高,測(cè)量時(shí)間短,操作簡(jiǎn)單方便。適用于先進(jìn)制造業(yè)中微米、納米級(jí)結(jié)構(gòu)表面微觀特征的三維精密測(cè)量,包括表面 粗糙度、表面輪廓、臺(tái)階高、表面缺陷、微 觀形貌、薄膜厚度等等。同時(shí)適用于大專院校實(shí)驗(yàn)平臺(tái),科研院所以及各類專業(yè)檢測(cè)平臺(tái)實(shí)驗(yàn)室。
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