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【對(duì)應(yīng)測(cè)試】 R-T I-V 阻抗 霍爾效應(yīng)※
實(shí)現(xiàn) 高輸出量?低運(yùn)行成本 樣品測(cè)試
從室溫到6K※以下,簡(jiǎn)單的測(cè)試樣品的電特性 (**配備可于30分鐘內(nèi)將樣品冷卻)
計(jì)算器自動(dòng)程控
多端子樣品架與掃描儀可同時(shí)測(cè)試復(fù)數(shù)樣品 (24端子設(shè)備. *多可測(cè)5個(gè)樣品)
氣體對(duì)流冷卻法可讓大體積樣品整體平均的冷卻
無(wú)冷卻劑的冷卻系統(tǒng)(降低運(yùn)行成本)
依據(jù)電磁鐵施加磁場(chǎng)※
※霍爾效應(yīng)測(cè)試需要電磁鐵(電磁鐵為選配)
※到達(dá)的溫度可依據(jù)選配達(dá)到4K
暫無(wú)數(shù)據(jù)!