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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)是普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場(chǎng)的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、數(shù)量、大小、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段；

電子半導(dǎo)體圖像法清潔度分析系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括光學(xué)顯微鏡、圖像測(cè)試 CCD 攝像頭、三維立體載物平臺(tái)、圖像法顆粒分析系統(tǒng)軟件、電腦、打印機(jī)等部分組成；為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的粒度測(cè)試手段。

產(chǎn)品應(yīng)用：

航空、航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車(chē)制造、制冷、電子、半導(dǎo)體、工程機(jī)械、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域；

對(duì)各類(lèi)固體粉末、各類(lèi)液體中的固體顆粒（非連續(xù)相測(cè)試）。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

0.1~3000μm的超寬范圍、超高分辨率。

可根據(jù)客戶(hù)要求，植入相應(yīng)“圖像法顆粒度”測(cè)試和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號(hào)：PLD-MPCS2.0

訂制要求：各類(lèi)液體檢測(cè)要求；

測(cè)試范圍:  1μm-500μm

放大倍數(shù)：40X～l000X倍   

zui大分辨：0.1μm

顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：500萬(wàn)~1800萬(wàn)像素

分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑比分布、圓形度分布等

自動(dòng)分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 確 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）；

分 辨 率：>95%

售后服務(wù)：普洛帝中國(guó)服務(wù)中心/普研檢測(cè)。