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多功能集成測量附件

設(shè)計安裝在廣角測角儀上，用于對板狀材料、塊狀材料及基板上的膜的分析，進行晶相檢出、取向度檢測、應(yīng)力測試分析等，可以進行織構(gòu)、應(yīng)力、薄膜面內(nèi)結(jié)構(gòu)等測試。

功能特點

采用透射法或反射法進行極圖測試；

可以采用并傾法或者同傾法進行應(yīng)力測試；

薄膜測試（樣品的面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）

應(yīng)用領(lǐng)域

輥軋板等金屬集合組織的評價；

陶瓷取向的評價；

薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價；

各種金屬材料、陶瓷材料的殘余應(yīng)力測試（耐磨耗性、耐切削性等的評價）；

多層膜的殘余應(yīng)力測試（膜的剝落等的評價）；

高溫超導(dǎo)材料薄膜、金屬板等表面氧化、氮化膜的分析；

玻璃、Si、金屬基板上的多層膜的分析（磁性薄膜、金屬表面硬化皮膜等）；

大分子材料、紙、鏡片等電鍍材料的分析。

技術(shù)規(guī)格

α軸（傾斜）:       動作范圍 -45°~90°, 較小步距 0.001°/步       

β軸（面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）: 動作范圍 0°~360°, 較小步距 0.001°/步

x軸: 動作范圍：   動作范圍 ±10mm，較小步距 0.001mm/步 

y軸: 動作范圍：    較小步距 0.001mm/步 

z軸（前后旋轉(zhuǎn)）: 動作范圍 ±10mm, 較小步距 0.001mm/步                

樣品尺寸:             較大Φ40mm，厚度10mm