誤差率:
未分辨率:
2048×1536重現(xiàn)性:
未儀器原理:
其他分散方式:
未測量時間:
未測量范圍:
1-6000μm看了顯微顆粒圖像分析儀的用戶又看了
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一、產(chǎn)品簡介
BOS-T180是國內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計算機圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論**結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時,將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來,使用戶可以詳細的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動化、智能化能時代性的標(biāo)志、使其操作更簡便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。
二、性能特點
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計算機屏幕,用戶可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性;
**拼接多幅圖像 將選取不同視場拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測試結(jié)果更具代表性;
自動分割粘連顆粒 采用更先進的顆粒識別算法,對各種形狀的粘連顆粒都能自動分割,顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時間;
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能,使其進行圖像二值化處理時不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ);
自動處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動處理工具集,集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計算顆粒參數(shù)等功能的自動操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過程,操作簡便且結(jié)果可靠;
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶對通過電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實現(xiàn)進一步處理;
快速處理特殊形狀顆粒 對于球形顆粒,采用讀特的處理算法,對原始圖片無需進行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會影響分析結(jié)果,提高球形顆粒的分析效率。
三、適用范圍:
BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)
規(guī)格型號
BOS-T180
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
顯微系統(tǒng)
物鏡
4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組
目鏡
1X、10X、16X 大視野攝像目鏡
載物臺
手動三維機械式載物臺,尺寸:185mm×140mm,
移動范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦,
微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
光源
底部透射光源,6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)??蛇x頂部金相落射式光源(帶起偏振器)
總放大倍數(shù)
4倍——1600倍
攝像系統(tǒng)
蕞高分辨率
2048×1536
像素尺寸
3.2μm×3.2μm
成像元件
1/1.8英寸 progress scan CMOS
幀率
6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
蕞高清晰度
900線
信噪比
小于42dB
敏感度
1.0V@550nm/lux/S
輸出方式
USB2.0
實際觀測范圍
1-6000μm
軟件功能
靜態(tài)采集
將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片
圖片處理
使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理
圖像拼接
將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接,進一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。
顆粒的自動處理工具集
自動肖除顆粒粘連、自動肖除雜點、自動肖除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
比例尺標(biāo)定
通過幗家標(biāo)準(zhǔn)測微尺標(biāo)定后,每次測試只須選擇與物鏡相對應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實際大小數(shù)值。
單個顆粒數(shù)據(jù)
可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數(shù)的分析。
任務(wù)管理機制
嚴(yán)格的任務(wù)管理機制,使用戶能夠?qū)⑺袦y試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來。
報告輸出
將測試結(jié)果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式。
整體分布特征參數(shù)
D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)
報告參數(shù)
整體頻率分布累計分布
顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。
統(tǒng)計平均徑
Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑
形狀參數(shù)
長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項常用數(shù)據(jù)
個數(shù)統(tǒng)計
直接得到所觀測的顆粒數(shù)量
樣品縮略圖
可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報告中
表頭輸入
可以將樣品名稱、測試單位、分散介質(zhì)等多項信息輸入到報告表頭中
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008