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顆粒圖像分析儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)，為各種應(yīng)用引入了滿足各種不同應(yīng)用需求的粒徑粒形分析方法。

激光粒度粒形分析儀

測量原理

粒徑分析 (PSA)

EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法（LOT）。這是一種針對旋轉(zhuǎn)的激光光束遮擋時(shí)間 的粒徑分析技術(shù)。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉(zhuǎn)。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續(xù)時(shí)間來計(jì)算。這免除了其它分析技術(shù)所需的對檢測器靈敏度進(jìn)行校正的必要性。

EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復(fù)性。我們激光方法在600個(gè)不連續(xù)的時(shí)間間隔進(jìn)行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點(diǎn)推算出來的。不受折射率指數(shù)、粘度變化、布朗運(yùn)動(dòng)、熱傳導(dǎo)和其它物理現(xiàn)象的影響。

動(dòng)態(tài)粒形分析 (DSC)

動(dòng)態(tài)粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數(shù)字圖像并分析大量形狀參數(shù)。動(dòng)態(tài)顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動(dòng)態(tài)流動(dòng)過程中，可以連續(xù)捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動(dòng)和限制對靜止物體的監(jiān)測。大量圖片被放大、處理和自動(dòng)分析，確保結(jié)果具有充分的代表性。圖像和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)都可以打印或儲存，作為樣品記錄。

激光粒度粒形分析儀

特別特征

模塊化設(shè)計(jì)

可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態(tài)的顆粒，液體、粉末、氣溶膠、膏狀、薄膜和乳劑。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業(yè)P4 電腦開發(fā)的ACU，模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實(shí)驗(yàn)室。

高速度

EyeTech的粒徑分析速度非?？臁yeTech用了一種特別快速的掃描和分析裝置。低濃度的顆粒能夠在30秒之內(nèi)測好。

寬范圍

激光通道可以測定0.1到2000 μm 的顆粒。使用動(dòng)態(tài)高速視頻通道，可以在幾分鐘內(nèi)測量成千上萬顆顆粒的圖像，粒徑從2μm~3600μm。動(dòng)態(tài)粒形分析能夠獲得高質(zhì)量的、高對比度的圖像，能夠定義和測量低對比度的目標(biāo)。

樣品分析測量池和樣品分散裝置

EyeTech具有大量自動(dòng)化的耐用的樣品分析測量池和樣品分散裝置，可以根據(jù)具體要求，測量各種不同的濕樣和干的樣品。

主要技術(shù)特點(diǎn)：

1. 直接對每個(gè)顆粒進(jìn)行測量得到顆粒分布，不是根據(jù)其他二級特性推算出來的顆粒分布;

2. 不會(huì)因?yàn)闃悠氛凵渲笖?shù)、粘度變化、布朗運(yùn)動(dòng)和熱對流等不確定因素引起測量誤差;

3. 分析結(jié)果不依于賴顆?；蚍稚⒔橘|(zhì)的光學(xué)特性，可以測量高折射率顆粒、透明顆粒、半透明顆粒以及混合材料顆粒;

4. 多種測量池，適合進(jìn)行各種樣品干態(tài)、濕態(tài)分析

5. 自動(dòng)校準(zhǔn)，免校正和標(biāo)定;

6. 高分辨率、可重復(fù)性和寬動(dòng)態(tài)范圍;

7. 提供弗雷特（Feret）直徑、面積、周長、形狀因子、長細(xì)比、凹凸度、橢圓度等等40個(gè)顆粒粒度和粒形參數(shù);

8. “眼見為實(shí)” ― 我們獨(dú)特的視頻通道除了能夠進(jìn)行粒形分析，還可以給您測量顆粒的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像Video顯示。

特有的顆粒信息數(shù)據(jù)庫功能，每個(gè)顆粒的圖像和粒形信息都存儲在數(shù)據(jù)庫里，方便查閱、比較和檢索

測量池具體配置

1. ACM-101 電磁擾動(dòng)測量池

2. ACM-102機(jī)械擾動(dòng)測量池

3. ACM-104A 流動(dòng)式液體測量池

4. ACM-108微流量測量池

5. ACM-110顯微鏡載片測量池

6. ACM-112自由落體式測量池

7. ACM-106 氣溶膠測量池

8. ACM-111 溫控測量池

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