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            首頁(yè) > 粉體測(cè)試設(shè)備 > X射線粉末衍射儀 >
            小角X射線散射儀-Xeuss 3.0
            小角X射線散射儀-Xeuss 3.0

            參考價(jià)格

            200-500萬(wàn)元

            型號(hào)

            Xeuss 3.0

            品牌

            Xenocs

            產(chǎn)地

            法國(guó)

            樣本

            暫無(wú)
            賽諾普(蘇州)科學(xué)儀器有限公司

            會(huì)員

            |

            第5年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實(shí)

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              0
            • 誤差率:

              0
            • 色散單元:

              0
            • 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:

              0
            • 靈敏度:

              0
            • 分辨率:

              0
            • 重現(xiàn)性:

              0
            • 儀器原理:

              動(dòng)態(tài)光散射
            • 分散方式:

              0
            • 測(cè)量時(shí)間:

              0
            • 測(cè)量范圍:

              >2微米
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            Xeuss 3.0

            實(shí)驗(yàn)室的全自動(dòng)SAXS/WAXS/USAXS散射線站

            Xeuss 3.0作為實(shí)驗(yàn)室線站的**一代產(chǎn)品,其測(cè)試能力里,產(chǎn)品性能及測(cè)試效率都提升到了一個(gè)新的層次。

             

            主要優(yōu)點(diǎn)&特點(diǎn):
            1
            、更高的靈活性
            為廣大用戶群體提供全遠(yuǎn)程自動(dòng)操作的、具備表征超大納米尺度范圍的獨(dú)特工具。
            先進(jìn)納米材料的發(fā)展和設(shè)計(jì)需要在超大納米尺度范圍上進(jìn)行表征。
            Xeuss 3.0具備這樣的測(cè)試能力,通過(guò)完全自動(dòng)改變配置,采集的散射矢量q可跨越5個(gè)數(shù)量級(jí)。
            因此,對(duì)于給定的單個(gè)或批量樣品,任何經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的用戶都可以在完整的測(cè)量范圍內(nèi)遠(yuǎn)程操作系統(tǒng)。
            可自動(dòng)更改的測(cè)量設(shè)置包括:
            - Q-Xoom通過(guò)探測(cè)器的自動(dòng)平移來(lái)改變測(cè)量分辨率 
            - 使用Bonse Hart USAXS模塊可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)的SAXS/USAXS測(cè)量
            - X光源能量可選,提供3個(gè)可選光源
            - 用于原位SWAXS研究的可移動(dòng)WAXS探測(cè)器

            + Q-Xoom在真空環(huán)境中移動(dòng)探測(cè)器
            Q-Xoom–享受全范圍計(jì)算機(jī)控制的探測(cè)器行程的靈活性
            - ****的特性:探測(cè)器在真空中沿光路自動(dòng)移動(dòng)1 ~ 4米(取決于所選型號(hào))
            - 虛擬探測(cè)器的探測(cè)面積大于200 x 200 mm2
            - 在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,完全遠(yuǎn)程操作和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示(二維和一維),減少了停機(jī)時(shí)間,優(yōu)化您的實(shí)驗(yàn)過(guò)程
            - 將樣品放在固定位置,為樣品環(huán)境留出空間
            - 在真空中用純凈光、無(wú)窗探測(cè)器測(cè)試或在空氣中用X-Cones進(jìn)行測(cè)試

            + 自動(dòng)的Bonse-Hart USAXS模塊
            測(cè)量尺度可達(dá)4.5微米,并獲取納米尺度信息
            - 內(nèi)外移動(dòng)的分析晶體可確保在同一個(gè)樣品上USAXS和SAXS能夠自動(dòng)連續(xù)采集
            - 高質(zhì)量SAXS和USAXS數(shù)據(jù)合并
            - 無(wú)需人工操作或儀器重置
            - USAXS和SAXS/WAXS入射光在一條直線上,故無(wú)需移動(dòng)樣品

            + 多種光源
            對(duì)任何種類樣品(吸收,熒光,特征尺寸)的實(shí)驗(yàn)進(jìn)行優(yōu)化
            - 在自動(dòng)切換光源時(shí)儀器可自動(dòng)校準(zhǔn)光路
            - 多達(dá)3個(gè)光源模塊 (Cu, Mo, Cr)可以與Ga MetalJet光源一起使用
            - 不同光源的高精度切換,確保不同波長(zhǎng)對(duì)同一樣品的連續(xù)測(cè)量

             

            2、高性能
            Xeuss 3.0實(shí)驗(yàn)裝置具備**的靈活性,用于測(cè)試各種樣品并盡可能獲取**質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
            尤其,以下關(guān)鍵特點(diǎn)使用戶得以優(yōu)化**的實(shí)驗(yàn)和結(jié)果:
            - 高光通量設(shè)置和內(nèi)置低背景無(wú)噪音探測(cè)器,適合快速動(dòng)力學(xué)測(cè)試
            - 提供**探測(cè)面積,并且探測(cè)器可從WAXS位置自動(dòng)移動(dòng)到遠(yuǎn)距離的SAXS位置,優(yōu)化分辨率和信噪比
            - 遠(yuǎn)距離的SAXS設(shè)置可測(cè)量大特征尺寸樣品(> 300 nm)
            - 可選的USAXS模塊進(jìn)行超大結(jié)構(gòu)表征(> 4 μm)

            + 無(wú)beamstop數(shù)據(jù)采集
            - 杜絕來(lái)自Beamstop邊緣或探測(cè)器窗口膜的寄生散射,使低q處的散射信號(hào)不受干擾
            - 在采集過(guò)程中同時(shí)記錄直通光和樣品散射信號(hào),得到精確的透射強(qiáng)度,用于獲取精確的**強(qiáng)度校正
            - 另外,采集的直通光信號(hào)將整合到數(shù)據(jù)分析軟件(XSACT),提高解析結(jié)果的準(zhǔn)確性

            + 純凈光技術(shù)
            - 作為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的解決方案,Xeuss 3.0集成低維護(hù)成本的高性能微聚焦光源,亮度達(dá)到了之前高功率旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極靶光源才能實(shí)現(xiàn)的水平。
            現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)室中就可進(jìn)行諸如動(dòng)力學(xué)研究或稀釋樣品的納米粒子形狀分析的高級(jí)實(shí)驗(yàn)。另外,通過(guò)結(jié)合Xenocs公司的X射線光束和自動(dòng)無(wú)散射準(zhǔn)直系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高分辨率(光束Δq低),這對(duì)研究大特征尺寸的樣品或進(jìn)行準(zhǔn)確中間相的分析都非常重要。
            通過(guò)以下組合實(shí)現(xiàn)高光通量和高分辨率:
            - 持久的高亮度微聚焦光源
            - 具有高立體采集角的單次反射多層膜光學(xué)聚焦鏡
            - 樣品和探測(cè)器上光束尺寸二維可控

            為了保證X射線散射的**測(cè)試質(zhì)量,包括稀釋的或?qū)Ρ榷鹊偷臉悠?,Xeuss 3.0將10多年研發(fā)的高光通量和低噪音技術(shù)相結(jié)合。
            主要集成功能包括:
            - 從聚焦鏡到探測(cè)器傳感層的全真空系統(tǒng)
            - 第三代無(wú)散射準(zhǔn)直 (于2008年由Xenocs**引入市場(chǎng))
            - 真空中運(yùn)行的無(wú)窗口探測(cè)器
            - 混合像素光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
            - 宇宙背景自動(dòng)扣除技術(shù),減少環(huán)境寄生散射的影響

            配備MetalJet光源,用于非??斓膭?dòng)力學(xué)研究

            + Q-Xoom具有非常大的探測(cè)面積
            Q-Xoom采用電腦控制探測(cè)器全程移動(dòng),自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品到探測(cè)器距離,提供**的測(cè)試靈活性來(lái)優(yōu)化實(shí)驗(yàn)。
            虛擬探測(cè)器增強(qiáng)測(cè)試能力:
            在任意的樣品到探測(cè)器距離下,結(jié)合圖譜重構(gòu)技術(shù),任何規(guī)格的探測(cè)器的采集面積都將大于200 mm2 x 200 mm2。
            超大探測(cè)面積有利于優(yōu)化各向異性樣品信號(hào)的方位角覆蓋,還有利于高分辨率測(cè)試,例如在距離樣品較遠(yuǎn)處用偏置的探測(cè)器采集到更大的散射矢量,以表征較小的尺度。

             

            3、樣品空間大
            Xeuss 3.0的超大樣品腔有利于固定實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的樣品,這是目前以至今后的理想的X射線散射平臺(tái)儀器。
            先進(jìn)材料的研究和表征需要集成特定的或定制的樣品環(huán)境。由于其先進(jìn)的線站理念,Xeuss 3.0非常適用于這種新項(xiàng)目。
            包括:
            - 在測(cè)試過(guò)程中樣品在大樣品腔中保持固定(軸方向可持續(xù)觀察樣品,智能集成用戶自定義樣品環(huán)境)
            - 樣品臺(tái)的長(zhǎng)距離平移可用于空間分布掃描和批量測(cè)試
            - 多種標(biāo)準(zhǔn)樣品環(huán)境,并具備樣品臺(tái)識(shí)別功能

             


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            “賽諾普北京”微信公眾號(hào)正式上線

            “賽諾普北京”公眾號(hào)經(jīng)前期測(cè)試運(yùn)行后,現(xiàn)正式上線。您可通過(guò)掃描下方二維碼或通過(guò)微信賬號(hào)搜索“賽諾普北京”進(jìn)行關(guān)注,我們將定期發(fā)布公司重要活動(dòng),學(xué)術(shù)快訊及前沿報(bào)道,讓您隨時(shí)隨地獲得最新資訊,通過(guò)會(huì)話窗口

            Xenocs公司借力CAPZA Growth Tech,推動(dòng)全球業(yè)務(wù)發(fā)展

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            用于納米顆粒表征的原位小角 X 射線散射

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