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            安東帕動態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列
            安東帕動態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列

            參考價格

            60-70萬元

            型號

            Litesizer DLSx01 系列

            品牌

            安東帕

            產(chǎn)地

            奧地利

            樣本

            暫無
            安東帕中國

            高級會員

            |

            第11年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實

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            核心參數(shù)
            • 誤差率:

              +/-0.5 %
            • 分辨率:

              ~
            • 重現(xiàn)性:

              +/- 2%
            • 儀器原理:

              動態(tài)光散射
            • 分散方式:

              ~
            • 測量時間:

              1min
            • 測量范圍:

              0.3nm-12μm
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            Litesizer DLS 能提供一流的粒度測量,并具有自動角度選擇功能以減小誤差,而 MAPS 技術(shù)可實現(xiàn)一流的峰值分辨率。連續(xù)的透射率檢測可以監(jiān)控測量過程中樣品的沉淀和結(jié)塊,提高測量的可靠性。

            作為我們系統(tǒng)的獨特之處,cmPALS 和 Omega Cuvette 通過解決老化效應(yīng)并降低電勢梯度來提高 zeta 電位的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

            Litesizer DLS 還提供了熒光和偏振濾光片,不僅適用于粒度測量,還適用于 MAPS 三角和單角度模式下的顆粒濃度測量。

            關(guān)鍵功能

            三個角度,實時監(jiān)控,確保粒徑更準(zhǔn)確

            三個角度,實時監(jiān)控,確保粒徑更準(zhǔn)確

            Litesizer DLS 提供了三種不同的檢測角度選擇,來測量各種各樣的樣品,同時通過自動角度選擇消除誤差。 
            多角度粒度測量 (MAPS) 測量模式提供了出色的分辨率,支持先進(jìn)的分析精度。 
            我們的連續(xù)透光率監(jiān)控技術(shù)是市面上獨有的,可在整個測量過程中提供樣品行為的實時反饋,為用戶提供有關(guān)沉降或結(jié)塊的實時信息。這種實時洞察提高了測量質(zhì)量和可靠性,使我們的系統(tǒng)成為準(zhǔn)確、可靠的顆粒分析**選擇。

            市場**的 Zeta 電位分析

            市場**的 Zeta 電位分析

            我們的動態(tài)光散射儀器的** cmPALS 技術(shù)采用獨特設(shè)計,可消除由老化效應(yīng)所引起的可重復(fù)不確定性。 
            此外,Omega 樣品池的創(chuàng)新設(shè)計**限度地減少了電場的梯度,進(jìn)一步提高了可重復(fù)性 (±3%)。我們的儀器具有業(yè)界**的 zeta 電位測量粒度范圍(從 1.3 nm 到 100 μm),可提供*豐富的功能,確保在廣泛的應(yīng)用中獲得精確、一致的結(jié)果。

            Kalliope:測量粒度的基準(zhǔn)軟件

            Kalliope:測量粒度的基準(zhǔn)軟件

            Kalliope 軟件幾乎不需要用戶培訓(xùn)。 
            只需三次點擊即可進(jìn)行測量。我們獨特的單頁布局提供了輸入?yún)?shù)、測量信號和結(jié)果的實時概覽,讓您對所需了解的一切都一目了然。通過預(yù)先設(shè)置的標(biāo)準(zhǔn)報告和條理清晰的結(jié)果摘要,快速訪問測量結(jié)果。 
            如需更詳細(xì)的分析,請使用可自定義的報告模板、Excel 導(dǎo)出選項和高級分析功能。此外,Kalliope 完全符合 21 CFR Part 11,確保了數(shù)據(jù)的完整性和合規(guī)性。

            滿足您所需的所有測量模式

            滿足您所需的所有測量模式

            利用 Litesizer DLS 701 的顆粒濃度測量模式,增強(qiáng)您的多功能性能,可對單個樣本中*多三個不同粒徑群體進(jìn)行免校準(zhǔn)濃度分析。無論您使用單角度 DLS 還是 MAPS,此模式均支持更大濃度范圍內(nèi)的單分散和多分散樣品。
            此外,在精確的波長和測量溫度下測量溶劑的折射率(歐洲** 3 023 770),確保粒度和 zeta 電位結(jié)果的**精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高達(dá) ±0.5% 的精確折射率測量。
            *重要的是,Litesizer DLS 系列還能提供分子量測量。
             

            功能強(qiáng)大的過濾器選項

            功能強(qiáng)大的過濾器選項

            Litesizer DLS 701 和 501 是市場上**為用戶提供可在三個角度方向應(yīng)用的熒光和偏振濾光片之間獨特選擇的動態(tài)光散射儀器。這使其能夠進(jìn)行顆粒濃度分析以及應(yīng)用過濾器的 MAPS 三角分析或特定的單角度分析 - 允許使用同類儀器無法進(jìn)行的分析類型(


            創(chuàng)新點

            cmPALS專利技術(shù),Omega 毛細(xì)管電位池,持續(xù)的透光率測量,高分辨率,三個檢測角度,折光率檢測,自動滴定系統(tǒng)。

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