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        TESCAN TIMA-X FEG(GM) 綜合礦物分析儀
        TESCAN TIMA-X FEG(GM) 綜合礦物分析儀

        參考價(jià)格

        500萬(wàn)以上

        型號(hào)

        TESCAN TIMA-X FEG(GM)

        品牌

        產(chǎn)地

        歐洲

        樣本

        暫無(wú)
        泰思肯貿(mào)易(上海)有限公司.

        會(huì)員

        |

        第7年

        |

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        二次電子圖象分辨率1.2nm @ 30keV放大倍數(shù)1~1,000,000 x
        背散射電子圖像分辨率2.0nm @ 15keV加速電壓0.2~30 kV
        產(chǎn)地屬性歐洲儀器種類場(chǎng)發(fā)射
        價(jià)格范圍500萬(wàn)-700萬(wàn)

        TESCAN綜合礦物分析儀(TIMA)是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對(duì)塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。

        TIMA的應(yīng)用范圍很寬,包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復(fù)、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的EDX系統(tǒng)執(zhí)行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了****的數(shù)據(jù)采集速度,進(jìn)而得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果。


        TIMA硬件

        TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設(shè)計(jì)(電子槍的恒真空與隔絕閥)提高了發(fā)射的穩(wěn)定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統(tǒng)提供高真空模式為標(biāo)準(zhǔn),低真空模式為選配。

        大 樣品室、由計(jì)算機(jī)控制的超快樣品臺(tái)、礦物樣品支持器的特殊設(shè)計(jì)。樣品臺(tái)可以同時(shí)容納7塊直徑**為30mm的樣品。樣品臺(tái)內(nèi)可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺(tái)有EDX/BSE校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)、鉑Faraday筒(BSE信號(hào)校準(zhǔn))與錳、 銅、 石英、碳和金元素(系統(tǒng)性能檢查)。標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的元素可以根據(jù)客戶要求定制。



        配件:


        • 二次電子探頭

        • 背散射電子探頭

        • 探針電流測(cè)量

        • 壓差式防碰撞報(bào)警裝置

        • 可觀察樣品室內(nèi)部的紅外線攝像頭等,各種配件可供選擇


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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價(jià)比

        10分
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