編號：CSJS00043
篇名：掃描電鏡中納米線彈性模量的原位測量方法
作者：莫日根； 施雨； 張友生； 閆允杰； 陳常強； 周武； 陳家煒； 朱靜；
關(guān)鍵詞：彈性模量； 納米線； 原位； 電致振動； 單軸拉伸；
機構(gòu)： 北京電子顯微鏡中心先進(jìn)材料教育部重點實驗室清華大學(xué)材料系；
摘要： 彈性性能是材料最基本的力學(xué)性能之一。隨著樣品尺寸減小,納米材料(如納米線)的彈性模量可能偏離塊體材料的值,而其準(zhǔn)確測量是認(rèn)識這一尺寸效應(yīng)的前提。本文基于自行設(shè)計制作的納米操縱臺和納米壓電馬達(dá),討論了在掃描電鏡中原位測量納米線彈性模量的兩種主要方法,即電致振動和單軸拉伸方法。通過分析電致振動模式,確立了納米線固有頻率的判定準(zhǔn)則,從而保證了彎曲模量的準(zhǔn)確測量;通過建立包含五個運動自由度的測量系統(tǒng),并選擇合適的加載懸臂,實現(xiàn)了拉伸模量的準(zhǔn)確測量。
