編號(hào)：NMJS02593
篇名：納米Fe_3O_4顆粒的正電子湮沒(méi)譜學(xué)研究
作者：許紅霞； 郝穎萍； 韓榮典； 翁惠民； 杜淮江； 葉邦角；
關(guān)鍵詞：正電子； Fe3O4； 壽命譜； 多普勒展寬譜；
機(jī)構(gòu)： 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)近代物理系；
摘要： 測(cè)量了磁性納米Fe3O4顆粒的X射線衍射譜(XRD)、正電子湮沒(méi)壽命譜(PALS)和符合多普勒展寬譜(CDBS),研究了不同壓力和退火溫度對(duì)磁性納米Fe3O4顆粒物相、電子結(jié)構(gòu)、缺陷及電子動(dòng)量分布等的影響.XRD,PALS,CDBS測(cè)量結(jié)果表明:納米Fe3O4顆粒的缺陷濃度隨壓力的增加而增大,但物相和缺陷類型并未發(fā)生變化;磁性納米Fe3O4顆粒的物相、缺陷類型及缺陷數(shù)量隨著退火溫度的提高發(fā)生了顯著的變化;大氣環(huán)境中壓成的納米Fe3O4樣品,相變發(fā)生在350—500℃范圍內(nèi).隨著退火溫度的提高,納米Fe3O4顆粒長(zhǎng)大導(dǎo)致使界面缺陷數(shù)量減少、S參數(shù)變小、商譜高動(dòng)量區(qū)的升高.
