編號(hào)：NMJS02226
篇名：X射線Rietveld方法在納米材料研究領(lǐng)域的應(yīng)用
作者：周玉華； 宋武林； 柯莉； 曾小川； 謝長(zhǎng)生；
關(guān)鍵詞：納米材料； X射線Rietveld； 結(jié)構(gòu)精修； 定量分析； 微結(jié)構(gòu)分析；
機(jī)構(gòu)： 華中科技大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院模具技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室； 華中科技大學(xué)分析測(cè)試中心；
摘要： 納米材料由于獨(dú)特的微結(jié)構(gòu)和奇異性能成為當(dāng)今世界范圍內(nèi)研究與開(kāi)發(fā)的熱點(diǎn)。鑒于Rietveld方法在常規(guī)固體材料方面廣泛而成功的應(yīng)用,將Rietveld方法引入到納米研究領(lǐng)域具有重要的意義。簡(jiǎn)要介紹了Rietveld方法的基本原理及其在納米材料的晶體結(jié)構(gòu)精修、物相定量分析和微結(jié)構(gòu)分析等方面的應(yīng)用。
