編號(hào)：NMJS02082
篇名：利用下端腐蝕法制備納米級(jí)STM探針
作者：崔慶國(guó)； 張露； 謝佳樂(lè)； 楊秀凡； 王俊忠；
關(guān)鍵詞：掃描隧道顯微鏡； 電化學(xué)腐蝕； 液膜法； 自動(dòng)切斷電路； STM探針制備；
機(jī)構(gòu)： 西南大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院；
摘要： 在深入分析電化學(xué)腐蝕原理的基礎(chǔ)上,發(fā)現(xiàn)了一種提高針尖的尖銳程度的新方法,即:利用下端腐蝕方法得到了比傳統(tǒng)的上端腐蝕方法更尖銳的針尖.通過(guò)對(duì)腐蝕電壓、腐蝕溶液濃度、切斷時(shí)間的研究和分析,總結(jié)出下端腐蝕法制備納米級(jí)STM探針的最佳綜合條件;并通過(guò)對(duì)前人方案的修改和完善,研制了一套自動(dòng)控制切斷電路裝置,該電路裝置可以任意設(shè)置切斷條件,以此得到不同粗細(xì)的針尖;最后將據(jù)此制作的納米級(jí)針尖成功地應(yīng)用于Unisoku-STM儀器的掃描,得到了清晰、穩(wěn)定的原子級(jí)分辨Bi(0001)圖像.
