編號：NMJS02053
篇名：NIST研究提高納米粒子安全性評估的新方法
作者：何芳；
關鍵詞：納米粒子； 新方法； 技術研究； 細胞培養(yǎng)； 美國國家標準； 安全性評估； 內細胞； 科學家； 釋放； 俘獲；
機構：
摘要： <正>目前,美國國家標準技術研究院(NIST)的專家研究出一種方法—"俘獲和釋放"程序來控制納米粒子。該方法是采用微弱的電流來影響納米粒子的性能,使得科學家可以對暴露的納米粒子進行細胞培養(yǎng),并觀察其細胞如何反應,這樣可以獲得細胞
